双荧光层靶Kα线强度比诊断靶内超热电子温度.pdfVIP

第 23卷第 5期 强 激 光 与 粒 子 束 Vo1．23，NO．5 2O11年 5月 H IGH POW ER IASER AND PARTICIE BEAM S M ay，2011 文章编号 ：2011)05—1303—04 双荧光层靶 K 线强度 比诊断靶 内超热 电子温度 蔡涓涓 ， 黄文忠 ， 谷渝秋 ， 董克攻 ， 吴玉迟 ， 朱 斌 ， 王晓方 (1．中国工程物理研究院 激光聚变研究中心 ，高温高密度等离子体物理 国防科技重点实验室 ，四川 绵 阳 621900； 2．中国科学技术大学 近代物理系 ．中国科学 院 基础等离子体物理重点实验室 ，合 肥 230026) 摘 要 ： 利用双荧光层复合靶产生的 Ka特征线强度 比诊断丁靶 内超热 电子 的温度 ，即通过实验测量复 合靶 中两种不同材料荧光层辐射 出的 Ka特征线强度 比，结合 ITS3．0程序模拟结果 ，对超热电子温度进行诊 断 。将诊断结果与实验中利用电子磁谱仪测量 的超热 电子温度进行 了比较 ，二者基本一致。结果表明，选取适 当的荧光层靶厚 ，可 以利用双荧光层复合靶产生的 K。特征线强度 比对靶内的超热 电子温度进行诊 断。 关键词 ： 超短超强激光 ； 固体靶 ； 超热电子 ； Ka特征线 中图分类号 ： 0434．12 文献标志码 ： A doi：10．3788／HPIP1303 超短超强激光辐照固体靶可以在靶前表面靠近临界密度面附近产生大量超热电子 ，沿靶前发射 ，并向靶 内传输 。超热电子的能谱一般为类麦克斯韦分布 ，其斜率温度 T。称为超热 电子温度。超热电子在向靶 内传 输 中，可 以激发出 Ka特征线。通过 Ka特征线测量来 研究超热 电子 ，与激光核聚变 的快点火 方案密切相关。 测量超热电子温度 ，目前采用 的方法有 电子磁谱仪探测 、轫致辐射测量和 Ka特征线测量等 。1993年， Chen等人第一次定量研究了皮秒激光与双层靶 (A1／Si)相互作用 ，通过比较不 同厚度 A1层产生的超热 电子 在 Si层中激发 的K 特征线光子绝对产额 ，比对蒙特卡罗程序模拟结果 ，得到了超热电子的温度。Wharton等 人实验测量了激光与三层靶 (A1／Mo／CH)相互作用时 Mo靶 Ks特征线光子产额随 A1层厚度的关系 J，通过 比对 ITS程序 ，模拟不同平均能量 的超热电子在 Mo层靶中传输时激发的Ka特征线光子产额随靶厚 的关系。 给出超热 电子温度及激光能量转化为超热 电子的效率 ，但这种方法不能通过单发次测量来确定超热 电子温度 。 Martinolli等人建立了激光辐照三层靶 (Al／cu／A1)模型一，通过测量 Cu和 Al荧光层的Ks特征线强度之 比， 结合蒙特卡罗程序模拟，诊断了超热 电子温度 ，并对超热电子束输运过程进行 了研究。这种方法的优点是单发 次测量结合模拟结果就可获得超热电子温度。本文采用含双荧光层的三层复合靶 ，通过测量双荧光层产生的 Ks特征线强度 比，来对靶 内的超热电子温度进行诊断。实验 中，利用标定 的单光子计数 Ks特征线谱仪对 Ka 特征线强度进行测量 。通过与 ITS程序模拟结果 比对 ，获得 了超热 电子的温度 。同时，还与实验 中电子磁 谱仪直接测量的超热 电子温度进行 了比较 ，结果表 明，利用双荧光层靶的 Ks特征线强度 比来诊断靶 内超热 电 子温度是可行 的。 1 物理模 型 超热电子的产生与激发 Ks特征线 的原理如图 1所示。超短超强激光和 固体靶相互作用 ，由于共振吸收、 有质动力等作用 ，在临界密度面附近区域产生大量超热电子 ，其能量分布呈准麦克斯韦能量分布。 针对实验 中激光 以P偏振斜入射辐照靶 ，在模拟中主要考虑沿法线方 向向靶 内传输 的超热 电子 ，图 1给出 本文研究超热电子产生 Ka特征线发射 的直观图像 。。，假设超热电子正人射到平面靶 中，初始发散角为45。。 为 Ka线 出射方 向与靶背法线方 向n的夹角。Ks光子产额满足。。17 r N — l77h。fh。．(E)N (E)，’。(