电子技术基础实验.ppt

S10.3 实验设备仪器及器材 （1） 数字逻辑电路实验装置1台；  （2） 双D触发器CD4013B(或74LS74)1片；  （3） 双JK触发器CD4027B(或74LS112)1片；  （4） 双四输入与非门CD4011B（或74LS20）1片。 S10.4 实验内容及步骤 　　1. D触发器CD4013B(或74LS74)功能测试 　　CD4013B、74LS74的管脚排列如图S10.1和图S10.2所示； 真值表见表S10.1和表S10.2。 图S10.1 CD4013B管脚排列图 S7.5 实验报告 (1）整理实验数据，总结负反馈对Au及通频带fBW的影响。 　　(2）进一步了解负反馈对放大器其它性能的影响情况。 实验8 　组合逻辑电路的测试与设计 S8.1 实验目的 (１) 掌握集成门电路逻辑功能的测试方法；  (２) 熟悉集成门电路的应用；  (３) 掌握组合逻辑电路的设计和测试方法。 S8.2 实验要求 　　(1) 熟悉74LS00、74LS10、74LS86(或CC4000、 CD4000系列)的管脚排列及逻辑功能, 写出各集成块理论真值表。 　　(2) 熟悉组合逻辑电路设计的内容,完成选定题目的设计任务,根据设计要求列出真值表, 得出逻辑表达式,画出逻辑电路和实际接线图。 　　(3) 阅读有关CMOS集成电路的使用规则。 S8.3 实验设备及器材 　(1) 数字逻辑实验装置1台； 　（2) 数字万用表1块；  　（3） TTL集成块或CMOS集成块： 　二输入四与非门74LS00(或CC4011、CD4011)1片 　三输入三与非门74LS10(或CC4023、CD4023)1片 　二输入四异或门74LS86(或CC4070、CD4070B)1片 S8.4 实验内容及步骤 　　1. 集成块逻辑功能测试 　　1）74LS00(或CC4011、 CD4011)逻辑功能测试 　　74LS00(或CC4011、CD4011)为二输入四与非门，其管脚排列及内部接线如图S8.1和图S8.2所示。 　　按引线图接线，UCC(UDD)端接＋5V电源，GND(USS)接地， 对其中一只与非门进行测试，验证与非关系Y=A·B。将测试结果填入表S8.1中。 表 S8.1 图S8.1 74LS00管脚排列图 图S8.2 CD4011管脚排列图 2） 74LS10(或CC4023、CD4023)逻辑功能测试 　　74LS10(或CC4023、CD4023)为三输入三与非门，其管脚排列及内部接线如图S8.3和图S8.4所示。 　　按引线图接线，对其中一只与非门进行测试，验证与非逻辑关系Y=A·B·C，并将测试结果填入表S8.2中。 图S8.3 74LS10管脚排列图 图S8.4 CD4023管脚排列图 表 S8.2 　　3） 74LS86(或CC4070、 CD4070B)逻辑功能测试 　　74LS86(或CC4070、CD4070B)为二输入四异或门，其管脚排列及内部接线如图S8.5和图S8.6所示。 　　 图S8.5 74LS86管脚排列图 图S8.6 CD4070B管脚排列图 　　按引线图进行接线，对其中一只异或门进行测试， 验证异或逻辑关系　　　　　　　　　　，并将测试结果填入表S8.3中。 表 S8.3 　　2. 组合逻辑电路设计与测试 　　（1） 在只有原变量输入的条件下，用两块74LS10和两块74LS00实现函数 　　（2） 用异或门设计一个三位数码的奇数校验电路，要求三位数码中有奇数个1时，输出为0。  　　（3） 在只有原变量输入的条件下，用与非门设计一个三变量不一致电路。 　　（4） 现有红、黄、绿三只指示灯，用来指示三台设备的工作情况，当三台设备都正常工作时，绿灯亮；当有一台设备有故障时，黄灯亮； 当有两台设备同时发生故障时，红灯亮； 当三台设备同时发生故障时，红灯和黄灯全亮。 在只有原变量输入的条件下，试用与非门和异或门设计控制灯亮的逻辑电路。  　　上面所给题目中，(1)与(2)、(2)与(3)、(2)与(4)各为一组，实验者可在其中任选一组进行设计测试。 S8.5 实验报告 (１) 整理实验测试结果; (２) 总结组合逻辑电路设计的步骤及测试方法; (3) 列出真值表；  (4) 写出逻辑表达式；  (5) 画出逻辑电路图；  (6) 画出实验接线图；  (7) 写出实验测试结果的分析结论。 实验9 3-8译码器及其应用 S9.1 实验目的 (1) 熟悉中规模集成译码器的逻辑功能及使用方法；  (2) 了解译码器的应用。  S9.2 实验要求 (1) 熟悉译码器的工作原理及全加器