MgxZn1-xO压电薄膜表面粗糙度对SMR性能的影响.pdfVIP

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MgxZn1-xO压电薄膜表面粗糙度对SMR性能的影响.pdf

材料与结构 MaterialsandStructures M~Znl—O压电薄膜表面粗糙度对SMR性能的影响 沈 勇,刘一剑 ,杨翰林,段 力,张亚非 (上海交通大学 电子信息与电气工程学院,上海 200240) 摘要 :固体装配型谐振器 (SMR) 由布拉格反射层上的两个电极及它们之 间的压电层制备而成。 布拉格层是厚度为 1/4波长的高低声阻层结构。ZnO压电薄膜是用来制备 SMR的传统压电材 料 ,但却拥有低的纵 向声学速度和相对 固定 的频率响应。由ZnO和 MgO合成的三元化合物 MgZn一o薄膜是一种高声速 、高电阻的压 电材料 ,有很大的潜能用于 SMR。Mgzn一o薄膜 表面的粗糙度对 SMR的谐振特性有很大影响。通过射频磁控溅射 的方法制备 了MgZn,一O薄 膜 ,研究了不同射频磁控溅射条件对 MgZn,一O薄膜表面粗糙度的影响。通过控制淀积条件, 获得了C轴择优取向的表面光滑的Mgzn,一O压电薄膜。通过优化Mgzn一O薄膜表面粗糙 度 ,SMR的性能能够得到显著提 高。 关键词 :磁控溅射;压电材料 ;表面粗糙度 ;固体装配型谐振器 (sMR);MgZn,一O 中图分类号 :TN304.21 文献标识码 :A 文章编号 :1671—4776 (2014)12—0776—04 InfluenceoftheSurfaceRoughnessofM g Znl一0 Piezoelectric ThinFilmson CharacteristicsoftheSM R ShenYong,LiuYijian,YangHanlin,DuanLi,ZhangYafei (SchoolofElectronics,InformationandElectricalEngineering (SEIEE),ShanghaiJiao TongUniversity,Shanghai200240,China) Abstract:Thesolidlymountedresonator (SM R)wasfabricatedfrom twoelectrodesuponBragg reflectinglayerandthepiezoelectriclayerbetweentwo electrodes.Bragg reflectinglayerwasa structureconsistingofhighand low acousticimpedancelayersofquarter—wavelengththickness. ZnO piezoelectricthinfilm isoneofthetraditionalmaterialstomaketheSM R,buthaslow longi— tudinalacousticspeed and relatively fixed frequency response.Ternary compound M gZn1- 0 thinfilm formedbyalloyingZnO andM gO isapiezoelectricmaterialwithhighvelocityandhigh resistance,andhasstrongpotentialapplicationsin theSMR.ThesurfaceroughnessofMgxZnl一 0 provedsignificantlybyoptimizingthesurfaceroughnessoftheMgZnl一0 thinfilm. 收稿 日期 :2014-09—08 基金项 目:国家科技项 目 (2011AA050504) 通信作者:张亚非 ,E-mail:yfzhang@sjtu.edu.cn 776 M icronanoelectronicTechnologyVo1.51No.12 December2014 沈 勇等:MgZn一0压电薄膜表面粗糙度对 SMR性能的影响 Keywords:m

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