Zernike多项式及在低温光学中应用.docVIP

Zernike多项式及其在低温光学中的应用Zernike多项式不但能精确地表示一个表面，还具有很多其它优点，在工程项目中得到了广泛的应用，特别是用以描述镜面面型。光学元件从室温降低至运行温度时，就会发生面形变化，因而对光学成像质量和探测器灵敏度有很大影响。Zernike多项式在低温光学中的应用包括镜面温度场的拟合以及镜面面形拟合。拟合编程用Matlab软件实现，用最小二乘法对超定方程进行编程求解。最后给出了一个动镜的Zernike面形拟合实例。Zernike多项式拟合的结果可以导入光学分析软件(ZEMAX)中，求出各个像差，进行热分析综合评价。 关键词：Zernike多项式 低温光学 镜面面形 热分析 0 引言 随着空间技术的不断发展，对地探测、大气观测、及天体观测等应用卫星也不断地发展。这些卫星大都需要探测器及其相关仪器来实现观测任务。对于这些探测器和仪器来说，最主要的是减少放大器的噪声和宇宙辐射背景的噪声，来提高探测器的灵敏度和成像的质量。由于空间背景的平均温度低于4K，光学系统的热辐射成了红外探测系统的主要热背景来源。为了提高探测器的灵敏度，就需要降低光学系统本身的温度。工作在低温条件下的光学系统，与常规的光学系统有很大的不同。当光学系统从室温降低至运行温度时，就会发生热变形，特别是光学元件的面形的改变，对光学成像质量有很大的影响。在光学元件发生变形的时候，元件的表面就变