尺寸对铜纳米薄膜2p32能级偏移的影响.pdfVIP

第 36卷 第 3期 湘 潭 大 学 自 然 科 学 学 报 Vo1．36No．3 2014年 9月 NaturalScienceJournalofXiangtanUniversity Sep．2014 尺寸对铜纳米薄膜 2p3／2能级偏移的影响 周兆锋 ， 杨叶子， 王 艳 ， 博茂林 (湘潭大学 低维材料教育部重点实验室，湖南 湘潭 4l1105) [摘要] 结合断键理论(BOLS)和x射线光电子能谱(XPS)分析尺寸对铜纳米薄膜 2p3／2能级偏移的影响．通过研究实验 测得的XPS谱数据发现铜块体 2p3／z的结合能为932．70eV，相对于铜单原子2p3／2的结合能 931．O0eV偏移了 1．70eV． 能级产生正偏移主要因为尺寸引起了键收缩，从而引起局域应变、量子势阱以及哈密顿量微扰的变化，最后导致 了能级 正偏移．事实证明我们可以利用配位数和化学环境来分析 XPS谱，并进一步确定有关局域键长、键能、束缚能密度以及原 子结合能等定量信息． 关 键 词：X射线光 电子能谱 ；能级；铜纳米薄膜 中图分类号：0641 文献标识码 ：A 文章编号：1000—5900(2014)03—0016一O7 SizeDependenceofthe2p3／2BindingEnergyofCuNano-film ZHOUZhao—fe．g 。 YANG 一z。 W_ANGYah。 BoMao—lin (KeyLaboratoryofLow DimensionalMaterialsandApplicationTechnologyof MinistryofEducationIXiangtanUniversity。Xiangtan411105China) [Abstract] Manystudieshavefoundthatnanomaterialrelativetothebulkwithaseriesofnovelproper— ties．The2p3／2bindingenergyshiftofCunano—film withdifferentsizehasbeenanalyzedontheframework ofbondorder—length—strength (BOIS)correlationindecompositionoftheX—rayphotoelectronspectrum (XPS)．TheoreticalreproductionofthemeasuredspectroscopicdataderivedthattheCu2p3／2shiftsposi— tivelyby1．70eV from theatomicvalueof931．00eV tothebulkvalueof932．70eV．Itisclarifiedthatthe positiveenergyshiftsoriginatefrom thesize-inducedbondcontraction，andillustratesthatthedominanceof thebroken-bond—-inducedlocalstrainandquantum entrapmentperturbstheHamihonianand finallycauses thepositiveshift．ExercisesexemplifytheenhancedcapabilitiesofXPSindeterminingquantitativeinforma— tionregardingtheevolutionofthelocalbondlength-bondenergy。bindingenergydensity，andatomiccohe— siveenergy。withthecoordinationnumberandchemicalenviroment． Keywords： XPS；bindingenergy；Cunano—film