ICP方法参数的优化.pptVIP

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仪器状态 波长校正 炬管准直 参数最佳化 等离子体示意图 元素波长:硬(hard)与软(soft) 发射强度与观察高度(1) 发射强度与观察高度(2) 发射强度与观察高度(4) 发射强度与观察高度(5) 功率的影响(1) 功率的影响(2) 功率的影响(3) 功率的影响(4) 雾化气压力的影响 等离子体气体流量的影响 小结 * 第五 方法参数的优化 ICP-OES培训 方法优化的参数: 1)功率(Power) 2)雾化气体流量/压力(Nebulizer Flow) 3)等离子体气体流量 (Plasma Flow) 4)辅助气流量 (Auxiliary Flow) 5)观察高度 (Viewing Height)-垂直炬管 RF功率、雾化气流量不变 RF功率不变、雾化气流量增加 雾化气流量不变、 RF功率增加 (硬线) 雾化气流量不变、 RF功率增加 (软线) Al167.019nm 硬线(Hard line) 轴向观察 Al167.019nm 硬线(Hard line) 垂直观察 Al 396.152nm 软线(Soft line) 轴向观察 Al 396.152nm 软线(Soft line) 垂直观察 压力(kPa) 强度 (х1000) 等离子体气体流量(L/min) 强度 (х1000) 在ICP-OES工作中,需要加以选择的工作条件很多,但与ICP放电 特性关系最密切的工作参数是:功率、雾化气流量和观察高度。 这些参数直接影响电子密度、激发温度及其空间分布。它们对 分析性能有极其明显的影响,而这种影响是极其复杂的,往往 通过实验加以选择。在选择时必须兼顾如何获得较强的检测能 力、较小的基体效应和适合于多元素的测定。在实际选择工作 条件时,往往需要根据具体情况,进行综合平衡加以折衷。 SpectrAA 220 FS Schnelle sequentielle AAS: Alternative zur ICP? Notizen Seite * *

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