电子元器件检测方法(二).docVIP

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  • 2017-08-17 发布于重庆
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电子元器件检测方法(二).doc

电子元器件检测方法(二)四、二极管检测方法与经验   1?检测小功率晶体二极管   A?判别正、负电极   (a)?观察外壳上符号标记。通常二极管外壳上标有二极管符号,带有三角形箭头一端为正极,另一端是负极。   (b)?观察外壳上色点。点接触二极管外壳上,通常标有极性色点(白色或红色)。一般标有色点一端即为正极。还有二极管上标有色环,带色环一端则为负极。   (c)以阻值较小一次测量为准,黑表笔所接一端为正极,红表笔所接一端则为负极。   B?检测最高工作频率fM。晶体二极管工作频率,可从有关特性表中查阅出外,实用中常常用眼睛观察二极管内部触丝来加以区分,如点接触型二极管属于高频管,面接触型二极管多为低频管。另外,也可以用万用表R×1k挡进行测试,一般正向电阻小于1k?多为高频管。   C?检测最高反向击穿电压VRM。交流电来说,不断变化,最高反向工作电压也就是二极管承受交流峰值电压。需要指出是,最高反向工作电压并二极管击穿电压。一般情况下,二极管击穿电压要比最高反向工作电压高多(约高一倍)。   2?检测玻封硅高速开关二极管   检测硅高速开关二极管方法与检测普通二极管方法相同。不同是,这种管子正向电阻较大。用R×1k电阻挡测量,一般正向电阻值为5k?~10k?,反向电阻值为无穷大。   3?检测快恢复、超快恢复二极管   用万用表检测快恢复、超快恢复二极管方法基本与检测塑封硅

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