大剂量Mn离子注入GaAs的性质的研究.pdfVIP

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2004年8月,浅 置第九馏全函离体雌*9术自U 大剂量Mn离子注入GaAs的性质研究 刘志凯1宋书林1陈诺夫1’2柴春林1尹志岗1杨少延1 1.中国科学院半导体所半导体材料科学重点实验室北京100083 2中国科学院力学研究所国家微重力实验室北京100080 摘要:室温条件在半绝缘性GaAs衬底上进行了大剂量Mn离子的低能注入,并进行了不同条件的退 新相衍射峰增多.根据衬底(004)峰摇摆曲线分析结果退火后更多的Mn离子进入晶格。运用原子力 显微镜分析了样品的表面,发现退火后突起的起伏度增加。磁性分析表明,经过退火样品的磁化强 度增大。 关键词: 低能注入;砷化镓:x射线衍射;梯度磁强计 PACC:2550B,7310,7450 中图分类号:TN304.7:TN304.054 on doseMn GaAs Study high implanted Liu Z枷血‘,SongShulinl,ChenNuoful一,Chaichuulin‘,Yin Zkigan91,YangShaoyan‘, (1 Chinese of AcademySciences,Beijing100083) National ofChinese of (2 MicrogravityLaboratoryAcademySciences, Instituteof 100080) Mechanics,Beijing doseMnionswdte into GaAssubstrateat ABSTRAC‘r:埘gh Implanted semi-imulaamg beam annealed Ion atd垃feremconditions.Thereweremorel地w energy deposittechnique.Allthe鞠mp|拦were phase curveresultssomoreMnionseutHed lattice.Fromthe oftwo crystal comparisonsamples’AFMimages,the ofthe increasedafter fromAGM roughnesssample蜘Ⅱ‰Increased出r叫加倒dln晷Magnetizationannealing results. Gradient diffraction;AlternatingMagnetometer Keywords:Low-energyimplantation;GaAs;X-ray P^CC:2550B;7310;7450 ].引言 磁性材料和半导体材料都是现代信息行业最为重要的两种材料,但两者却一直没有很好结合起 来的主要原因在于后者大多是非磁性的。为了利用半导体中电子的自旋,研究者通过以下两种方式 进行了探索:其一,通过在

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