真空绝缘的沿面闪络预击穿现象地研究.pdfVIP

————±旦里垫三堡兰叁壹皇堡主些重星叁!!!!生堂查垒望堡塞 真空绝缘的沿面闪络预击穿现象的研究 丁立健，李成榕，屠幼萍，王景春 华北电力大学电力工程系(北京102206) 摘 要：真空中绝缘子沿面闪络现象一直是制约真空绝缘性能的～个重要因素，沿面闪络的与击穿现 象和过程对沿面闪络的发生、发展和完成有重要的作用。本文对在冲击电压作用下真空中各种 氧化铝陶瓷试样的沿面闪络预击穿现象进行了一系列的归纳和总结，详细的介绍了冲击电压 作用下的真空中绝缘沿面闪络的各种预击穿现象及规律．这对进一步研究沿面闪络现象的机 理有重要的意义。 关键词：真空预击穿绝缘微放电空间电荷 1引言 真空中绝缘子的沿亟闪络现象研究已经傲了很多年的研究，但是和固体液体的电击穿 理论相类似，至今为止也没有一个很好的理论模型来解释真空中绝缘子沿面闪络的各种现 象。前期大多数研究都是侧重于绝缘沿面闪络现象本身(特别是闪络发生时的现象)的研究 I z’31，到最近几年，随着观测手段的提高和新测试技术的应用，开始对沿面闪络开始前的预 击穿现象进行了一些研究”1J。我们知道，任何介质的击穿都是一个在电压连续作用下的过 程，击穿完成前的任何现象和作用对于击穿过程的发生、发展和完成都有着十分重要的影 响。因此．充分研究真空中绝缘沿面闪络的各种预击穿现象对于了解、掌握真空绝缘沿面 闪络现象的特性，并对真空绝缘沿面闪络现象机理的研究有十分重要的意义。 本文主要介绍了研究真空中高纯度三氧化二铝的沿面闪络现象中所观测到的各种预击 穿现象，并对所观察记录的预击穿现象进行了分类和总结，这将对预击穿现象形成的本质 及其对沿面闪络现象的作用的研究分析有重要意义。 2试验装置和系统 本研究所采用的试验系统如图1所示。其中主要包括冲击电压源、试样与电极系统和真 空系统等试验设备和冲击电压、冲击电流、微弱光信号以及表面电荷等测量系统。简单说 明如下。 试验中选用的冲击电压源的最高峰值电压为60kV，输出冲击电压波形约为o．7／4ps，通 常输出电压是正极性的。冲击电压波形可以通过波头电阻和波尾电阻进行方便的调节，冲 击电压的极性也可以改变。 放入真空腔内进行测量，而冲击电压又是通过高压电缆直接引入真空腔体的，因此也无法 采用常规测量方法对旅加在真空中绝缘子上的冲击电压进行直接测量。为了能够直接监测 真空中绝缘子上的冲击电压，我们开发研制了一种基于E—dot探头的冲击电压测量系统【8l， 该系统的实际测量灵敏度为48．31mV／kV，实际分压比为20699：1。 试验中的电流波形通过在试验回路中的低压侧电极与地之间串联的一个20Q无感精密 测量电阻(CVR)来获取，在试验回路中串联了一个10kfl的保护电阻用来限制闪络时回路中 763 ———————————!旦皇堕三堡竺叁壹皇垦童兰竺墨堡叁!!!!兰兰查叁望笙壅 围1试验系统示意图 的电流。 试验中观测试样的沿面闪络预击穿现象主要是通过试样表面的发光现象的观测。试样 表面的微弱发光信号采用光电倍增管放大后再进行测量。光电倍增管(PMT)采用的是日本 典型的电流增益为l×10 7，阴极光照灵敏度为3011A／lm。 该试验系统还可方便的对试样表面的电荷分布进行测量。 除了表面电荷的测量外，整个实验系统的控制(电压的升降和电压的施加)和测量(真空度的 测量，冲击电压、电流和表面发光信号的测量)都在屏蔽室中进行。本研究采用YOKOGAWA DLl540L型四通道数字示波器对所有的测量信号(E—dot探头的冲击电压信号、电流信号和 以供将来分析。 卜】茎【 一t ^t坨t}漪‘ 毒H硅耕性鬟 】，麓*聃●持 2，帮月十‘挂 图2试验所用的电极系统 试验中采用的电极系统是如图2所示的一个对称的非均匀电场电极系统，这种结构有 利于观测施加电压时绝缘子试样表面的沿面闪络的各种阶段的各种现象。特别的，对于观 测沿面