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岩石学(含晶体光学)复习思考题
晶体光学与造岩矿物学部分
光性均质体定义,特征和包括的矿物种类(高级晶族和非晶质体)
光性非均质体定义,光在非均质体中传播的特征(A 具有两个或三个主折射率;B 具有双折射现象,双折率和最大双折率;C 具有1个或者2个光轴OA,沿此方向不发生双折射),非均质体包括的晶族(中级晶族和低级晶族)
光率体的定义,(注意任何切面都必须通过光率体中心)
均质体光率体的形状、切面特征
一轴晶定义、光率体特征(形状、2个主轴、2个主折射率、)
一轴晶光性符号是如何规定的,各举1个矿物例子(一轴正晶NeNo,石英;一轴负晶NeNo,方解石)
一轴晶的三种主要切面及其特征,并图示
切面类型 切面形状 半径 垂直该切面入射光特征 双折率 备注 示意图 1.垂直OA切面 圆 No 不发生双折射 0 只有1个 2.平行OA切面 椭圆 Ne,No 发生双折射,分解为两束偏光,振动方向分别平行于椭圆切面两个半径Ne,No,两个主折射率为Ne和No Ne与No之差,是最大双折率 无数个此切面 3.斜交OA切面 椭圆 No,Ne’ 发生双折射,分解为两束偏光,振动方向分别平行于椭圆切面两个半径Ne’,No,两个主折射率为Ne’和No Ne’与No之差 无数个此切面
二轴晶二轴光率体定义、光率体特征(形状为三轴不等椭球体、3个主轴NgNmNp、3个主轴面、两个光轴与两个圆切面)
二轴晶光率体有关的名词:二轴晶,光学主轴(主轴),主轴面(主切面),光轴面,光学法线,光轴角,锐角等分线,钝角等分线
二轴晶光性符号是如何规定的,举2种确定办法
若Bxa=Ng, 二轴正晶,正光性(+); 若Bxa=Np, 二轴负晶,负光性(—)
根据Ng-Nm-Np的大小,若Ng-NmNm-Np, 正光性(+) , 若Ng-NmNm-Np, 负光性(—)
二轴晶的五种主要切面及其特征,并图示,注意正晶和负晶不同,见表0
表0 二轴晶的五种主要切面及其特征
切面类型 切面形状 半径 垂直该切面入射光特征 双折率 备注 示意图 1.垂直OA切面 圆 Nm 不发生双折射 0 2个此切面 2. 平行光轴面的切面 椭圆
NgNp主轴面 Ng,Np 发生双折射 Ng-Np
为最大双折率 2个 3.垂直Bxa切面 1个 4.垂直Bxo切面 1个 5.斜交切面 无数个 光性方位定义。高级、中级和低级晶族晶体的光性方位各有什么特征?
岩石薄片的厚度?树胶的折射率? 0.03mm, 1.54
在单偏光镜下观察矿物解理分为几级(极完全/完全/不完),解理缝和解理缝可见临界角定义。
什么是解理夹角,测定解理夹角的步骤。
矿物颜色的本质(是透射光选择吸收的结果)。多色性与吸收性的定义,一轴晶和二轴晶分别在哪个切面多色性最明显(平行光轴或者平行光轴面)?
矿物的边缘和贝克线的定义。
讨论贝克线产生的原因,并图示。
贝克线移动规律?(提升镜筒,向折射率大移动;下降镜筒,折射率小移动)
糙面定义和产生原因。
突起的定义,确定矿突起正负的依据,突起的等级划分(折射率范围、特点和矿物举例)
在单偏光下可以观察矿物的哪些特征(矿物形态,解理,颜色,多色性和吸收性,边缘,贝克线,糙面,突起,闪突起)
消光和消光位的定义。矿物的三种消光类型及其反映的矿物和切面特征。
消光类型 矿物和切面性质 全消光 均质体,非均质体垂直光轴切面——圆切面 四次消光 非均质体垂直光轴切面以外的任一切面,四次消光四次明亮——椭圆切面 不消光 多晶质
矿物的三种消光类型,消光角的定义。
光程差的计算公式 R=d(N1-N2). 影响光程差的因素(薄片厚度,矿物性质,切面方向)
干涉色级序的第一、第二和第三级的特征
级序 R(nm) 主要干涉色 显著特征 第一级 0-550 暗灰-灰白-浅黄-橙-紫红 I级灰,I级灰白 第二级 550-1100 蓝-蓝绿-绿-黄-橙-紫红 鲜艳,界限清楚。II级蓝 第三级 1100-1650 蓝-绿-黄-橙-红 界限欠清楚。III级绿
熟悉并且会查干涉色色谱表(P44),在最大双折率、薄片厚度和干涉色3个参数中已知2个,查另1个
补色法则定义和内容(同名半径平行光程差相加R=R1+R2;异名半径平行光程差相减R=R1-R2;若异名半径平行且R1=R2,则视域黑暗,叫消色)
石膏试板、云母试板和石英楔的有关参数(光程差,干涉色,升降级序/色序),加入试板后的结果
确定干涉色级序常用的方法和原理(楔形边法必须是I级灰开始,红色n+1; 石英楔法必须消色再移出,红色n+1)
消光角定义和测定步骤
晶体延性的定义与正负规定。晶体延性测定方法
在正交偏光下可以观察矿物的哪些特征(消光类型、消光角、干涉色
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