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ＣＴ分析仪的测量原理简述 一、比差和角差的测试计算方法 Iex ：总励磁电流 ICT ：二次端子电流 IST ：总的二次电流 Ip ：一次电流 Lp ：一次绕组漏抗 ( 可忽略) Lmain： 主电抗 Ls ：二次绕组漏抗( 可忽略) Np, Ns： 理想互感器的匝数 N ：匝比 Rct ：二次绕组的电阻 Reddy ：涡流电阻 RH ：磁滞电阻 Rp ：一次绕组电阻 ( 可忽略) UC (VC)： 在主电抗(Lmain) 上的二次励磁电压 UCT (VB) ：在二次端子上的电压 ZB ：负载 Zload ：总负荷阻抗(ZB + RCT)。 比差的计算是基于磁化表格的（在二次侧升电压、测试励磁电流和励磁角）。 对于给定的励磁电压VC, 通过励磁表格可以找到相应的励磁电流Iex 和Iex 、VC 间的相位。 因为比差的定义是用一次电流Ip 和二次负荷电流ICT，励磁表格可以用来确定对于特定铁芯, 相对于给定的VC (不同的负载阻抗就有不同的VC值)的ICT值。 假设额定匝比Nrated 和匝比Nturns已知，对于给定一次电流Ip 和负载阻抗ZB、φ后的比差计算如下（Ist 总是作为参考指示）： 1. 负载阻抗的实部和虚部计算如下： RB=ZB×cosφ；XB=ZB×sinφ 2. 总负载阻抗的计算; Zload ； Rload＝RCT＋RB，Xload＝XB，Zload2＝Rl