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04 9thNationalConferenceonPositronAnnihilation 潦
PdAg合金与氢相互作用的正电子湮没研究 ‘
左 翼,郑水男,周冬梅,杜恩鹏,袁大庆,段 晓,王朝辉。朱升云
中国原子能科学研究院,北京,1024130
一、引言
氢能源是21世纪的重要能源。金属氢化物是一种新型的能源和氢输运材料。金属氢化
物不仅可以作为贮氢材料和输送氢的载体,还是一种电能、机械能、化学能和热能转换的功
能材料,有广泛的应用前景11 是一种有潜力的能源材料,也是一种重要的聚变堆材
科,有厂tL991用前T。PdAg
料。本工作采用正电子湮没方法,在77-295K温区和氢浓度为0-0.35范围,系统地研究
了PdAg合金与氢相互作用随温度和氢浓度的变化。正电子湮没寿命方法从原子尺度研究材
料的微结构,对材料微结构十分敏感,能够研究材料结构变化的最初始阶段及发展过程,得
到材料宏观性能变化的微观机制121
二、实验
Pdo.75Aga2s合金样品采用氢气保护下的溶解压锭法制备。溶解压锭过程反复2-3次,
以保证样品的均匀性。然后将Pdo.75A90.25锭辗压成厚度为Imm的薄片。Pd0.75Ago.u薄片在
氢气保护下退火,保证样品晶格的完整性,消除辗压在样品中产生的缺陷。实验样品大小为
1OmmxIOmmxImm。待充氢的Pd0.75Ag0.25样品清洗后放入充氢系统充氢,四组实验样品的
氢浓度x分别为0,0.1,0.2和0.35.
正电子湮没寿命测量采用快一快符合正电子湮没寿命谱仪。谱仪时间分辨为210ps。实
验测量中采用Na正电子源,源强为8x1护Bqo测量时二块相同样品和源形成三明治夹心
结构。每组样品在77K,150K,210K和295K四个温度点进行了正电子湮没寿命测量。温度控
制精度好于士IK.每个寿命谱总计数为06.I 实验测量的正电子湮没寿命谱用LT程序拟合
13).除源成分外,用二寿命成分拟合,拟合参数为:1tie、工:(11+几-1)。拟合优度好于1.3,
三、结果和讨论
图一是PdAgH:中正电子湮没短寿命成分;1随温度和氢浓度的变化,图二是正电子湮
没长寿命成分?:随温度和氢浓度的变化。由图可见,在未充氢的样品中只有一个短寿命成
分下1,样品充氢后有两个寿命,除短寿命成分:1外,出现一个长寿命成分T:。在实验误
差范围内::不随温度和氢浓度变化,这是正电子在PdAgH;中的体寿命。对所有T;求平均,
得到,1=125.8(21)ps。由图二可以看到,长寿命成分::不随温度变化,而随氢浓度增加而
变大,其相对强度12同样不随温度变化,但是随氢浓度增大而减小。由于氢在晶体材料中的
溶解度很小,充的氢很容易在晶界等处析出,形成氢气泡。:2是氢气泡捕获的正电子湮没
的寿命,随氢浓度增加::变大,表明氢气抱尺度随氢浓度增加变大。而12随氢浓度增大而
减小,表明充入的氢主要使氢原子聚团增大氢气泡的尺度、而浓度减小。我们充氢是在室温
下进行的,在室温时材料中的氢是很活泼的,氢扩散和晶界析出等主要发生在这个时候,氢
气泡就在这个时候形成的。温度降低只能使氢的活动冻结,不引起氢气泡尺度和浓度的变化,
所以长寿命成分:2及其相对强度12不随温度变化。短寿命成分下;不随温度变化,表明在
77K到室温的温度范围PdAg合金没有发生结构相变。
氢脆及其机理是一个受到广泛关注的问题。氢脆微观机理有多种不同的观点,先后提出
了氢气泡引起氢脆的模型4[1,固溶氢致脆模型[5-61氢复合体模型171,应力诱发氢脆模型18[1
氢弱化裂纹尖断的原子结合键、促进位错形核和裂纹同空位合并模型191等。我们的实验数据
支持了氢气泡引起氢脆的微观机理。
采用正电子湮没寿命测量方法在 77-295K温度、0-0.35氢浓度范围研究了
.中国核工业集团公司基金 (项目号4160资助项目
簇麟 第九届全国正电子谱学会议 侧络.
Pda.7sAgo.23Hx氢化物合金。短寿命成分;,是自由正电子湮没寿命,不随温度和氢浓度变化,
表明PdAg合金没有发生结构相变。长寿命成分:2是氢气泡捕获的正电子湮没寿命,T2
及其相对强度12随氢浓度增大分别增大和减小,表明T:随氢浓度增大氢聚集成的气泡的尺
度增大而浓度减小。实验结果
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