独立模式算法求解颗粒粒径分布地研究.pdfVIP

2002年上海市颗粒学会年会论文集 独立模式算法求解颗粒粒径分布的研究+ 徐峰蔡小舒△苏明旭赵志军 (上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所，上海200093) △Emai l：￡垒i墨!壁卫望坠!iQ：§±垒：翌!!：!垒 摘要：光散射法测粒技术中常常会碰到反问题(Inverse Problem)，即对多分散的颗粒两相介 质，通过测得的多个角度或不同波长下的光信号，求解第一类Fredholm积分方程。本 文从理论和实验两方面出发，改进了Twomey算法在前向散射和消光法测粒技术中的应 用，获得了合理的颗粒粒径分布结果。 关键词：光散射；颗粒测量；反演算法 中图分类号：TH744 文献标识码：A O．前言 衍射或前向光散射法通过测量颗粒系在前向不同角度范围内的衍射或散射光强大小获得 粒径分布，消光法则通过测量多个波长下透射光强度的大小获得粒径分布。在这两种测量方 法的数据处理中都会遇到求解第一类Fredholm积分方程的问题。由于目前对于第一类 Fredholm积分方程还没有理论解，所以必须采用其他方法求解。已有的反演算法可以分为分 Model 布函数算法和无分布函数算法两类，两者又分别称为非独立模式算法(Independent Model Algorithm)和独立模式算法(Dependent Algorithm)。 非独立模式算法基于这样一个假设：被测颗粒系的颗粒尺寸分布满足某个已知的分布函 数(如R—R分布和正态分布等)，通过一定的优化方法确定分布函数中的待定参数。由于目前 多数分布函数都是双参数分布，所以非独立模式反演本质上就是2个参数的最优求解过程n_21。 事实上，在绝大多数的实际应用中，往往不知道被测颗粒系的粒径分布规律，或者颗粒 系的尺寸分布无法简单地用某个分布来描述，这就使非独立模式求得的结果变得不可靠。目 前国内外大都采用独立模式算法确定颗粒的尺寸分布。所谓独立模式的算法，就是不事先假 定被测颗粒系的分布形式，而是根据实际测量结果直接求解第一类Fredholm积分方程。在已 要探讨的是该算法的改进及在前向散射和多波长消光法测粒技术中的应用。 1．问题的提出 1．1衍射及前向散射测粒技术中的反演问题 对于前向散射口叫1，在同轴采光‘51的情况(图1)下，光通量可由下式计算得到： F=i／丸210饼0【忡)+堋)]siIl9棚 (1) 式中，Io为入射光强度，‘和f’为散射强度函数哺1。 在散射或前向小角散射中，散射光通常由数十个不同大小 的同心圆环组成的光电探测元件(光靶)测得。光靶直径及环 数与颗粒测量范围有关。 于是可以得到如下方程组： 示意图 术国家自然科学基金资助课题(资助号 2 2002年上海市颗粒学会年会论文集 el=tl,1V1+矿2．1V2+…+Z“V。 乞=f1．∥l+f2．∥2+…+fm∥。 (2) ％=矿l，0V1+f2。m_矿2+…+f。，mV。 式中，，z为环数，，z为粒径分档数，每一个系数t．．按式(1)计算得到，其意义为：直径 为口的颗粒落在第．7环上的散射光能。以上线性方程组表示成矩阵形式就是： E=TV