卫星在轨带电的研究.pdfVIP

第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会论文集 ——一一 ————————————————————————————————————————————————————————二--=二一：= 卫星在轨带电研究 朱文明 (中国航天科技集团五院总体部，北京9628信箱4分箱，100086) 摘要： 卫星在轨工作时，尤其是地球同步轨道(GEO)卫星，因空间热等离子体，使卫星相邻表面不等量的带 负电位至数千伏，当其超过材料绝缘强度时，发生不同于地面静电放电的卫星表面问静电放电(SESD)，产生 电磁脉冲(EMP)，通过缝隙等的进入星体内部电子设备中，引起伪指令，严重者造成设备功能受损。一定能量 的电子会穿透卫星壳体，电子在介质材料内部的积累产生一定的电位，引起材料自发的击穿对卫星造成一定的危 害。静电放电引起卫星工作的异常。本文简述卫星在轨带电原因及其危害，与设计分析和防护技术等。 1概述 卫星工作在带电粒子环境中，带电粒子以各种不同方式影响着卫星，既可直接穿透卫星进入 电子设备，也可以间接地通过卫星带电，产生放电引起问题。这些过程产生虚假指令，造成星上 电子学损伤，控制系统发生故障，甚至使卫星失败。 带粒子辐射环境包太阳宇宙射线，地球辐射带，银河宇宙射线。卫星上的设备受带电粒子轰 击，使得其性能衰退，严重者使设备性能完全受损。GEO卫星运行在36000krn高度上，由于太阳 耀斑和太阳日冕质量抛射(CME)及太阳风的影响，辐射环境对它们的危害更大。太阳宇宙线是太 阳耀斑爆发期间从太阳表面的活动区喷出来的高能粒子流，其主要成份是高能质子，故称太阳质 子事件。其发生是随机的，并有几天持续时间，太阳活动峰年出现更频繁。 太阳质子事件期间，当高速离子穿过半导体器件时，它们在器件中产生大量的电子和空穴， 使器件内携带电流。大量的电子空穴对进入敏感区，例如存储单元能改变它的信息，如果离子撞 击在控制系统或决定性电路中，产生虚假可能指令，对设备有破坏性的影响。此外这些效果使半 导体工作寿命下降。 太阳质子事件对载人飞船上工作者、航线穿越南北纬度为65度的极区航空器上的乘客有重 要的损伤。为保障航天员与航班上人员健康和生命安全国外对太阳质子事件开展了警报工作。通 过测量质子事件的粒子能量和通量来判断对卫星的损伤。能量为IOMeV—几百MeV的质子和离子 具有强穿透力，一个大质子事件对在轨正常工作数年的卫星能造成大损伤。大质子事件的平均辐 射剂量与卫星屏蔽的关系如图1所示，纵坐标辐射剂量(rad)，横坐标为屏蔽质量(g／cm2)…。 O ，§4 S 40 35 30 25 O S 2●1 0 S ∞∞：耋∞∞∞∞∞∞∞0 图1 质子事件平均辐射剂量与卫星屏蔽的关系 lll 第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会论文集 一． ———————————————————————————————————————————————————————二二—一 现代社会，在通信、导航、探测和科学研究直至金融等方面越来越依赖于卫星。空间环境以 不同方式影响和损伤着卫星。这取决于卫星轨道和功能与工作寿命，对性能强、功能多的卫星影 响和造成损伤更大，当今卫星系统发生的故障比对过去的卫星更多。 空间带电粒子引起卫星工作异常，甚至使卫星全部报废时有发生，研究表明，近20年来每 3。 年平均有卜2颗卫星因受辐射损伤，部分甚至全部功能报废k 卫星表面带电地球同步轨道(GE0)卫星表