FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法的研究.pdfVIP

FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究 姜昱光1,2封国强1朱翔1上官士鹏 马英起1韩建伟1 1.中国科学院 空间科学与应用研究中心，北京 1001902.中国科学院 研究生院，北京 100049 摘要：通过测试基于静态随机存储器(SRAM)的现场可编程门阵列(FPGA)芯片的单粒子效应，研究脉 冲激光的试验方法，评估脉冲激光试验单粒子效应的有效性。研究表明，激光光斑聚焦深度和激光注量 是影响脉冲激光单粒子效应试验的重要因素。试验发现，脉冲激光在较高能量时，单个激光脉冲会触发 多个配置存储位发生单粒子翻转，造成芯片饱和翻转截面偏大。激光辐照芯片时，观察到芯片的内核工 作电流以1～2mA的幅度逐渐增加，在此期间器件工作正常。试验获得了Virtex-2FPGA芯片的静态 单粒子翻转截面和翻转阈值。通过对比激光与重离子的试验结果发现，二者在测试器件单粒子翻转方 面基本一致，脉冲激光可有效研究芯片的单粒子效应特性。 关键词：脉冲激光 ; 单粒子效应 ;FPGA ; 多位翻转 ;翻转截面 T N 4 A PulsedLaserMethodforSEETestinginFPGAs JIANGYu-guang1,2 FENGGuo-qiang1 ZHUXiang1 SHANGGUANShi-peng1MAYing-qi1 HANJian-wei1 1.CenterforSpaceScienceandAppliedResearch,ChineseAcademyofSciences,Beijing100190,China; 2.GraduateUniversityofChineseAcademyofSciences,Beijing100049,China Abstract:Thepulsedlasermethodforstudyingsingleeventeffect(SEE)inVirtex-2 FPGAwasdiscussed,andthevalidityoflaserstimulatedSEEwasevaluated.Thelaser focusingdepthandlaserfluencehaveimportantimpactonthecrosssectionofdevice undertest.Withhighpulseenergy,asinglelaserpulsecouldinducemultiple-bitupsets (MBU).Duringirradiationofpulsedlaser,thecurrentofchipisincreasedby1-2mA andthechipworksnormally.Acomparisonbetweentheresultsofheavyionandpulsed lasershowsthatpulsedlaserisvalidtosimulateSEElikeheavy-ion. Keywords:pulsedlaser ; SEE ; FPGA ; MBU ; crosssection 1，0仃I，日宙穿丹U、TT佩／LJ ：应翻转截面和翻轻 型 FPGA芯 片 ， 由 于 结构复杂 ，需有相应 J’，-nⅧ、I一 三知硅衬底厚度和 光束聚焦到敏感臣 确测试衬底厚度j 蔷探求一种可准确 扣的翻转率更准面 ．流增大现象 七辐照芯片时，隧 核工作电流以1一 、 效牛棚掐正氆