X-射线荧光光谱法熔融制片校正物质的不确定度探讨.pdfVIP

第z8卷增2 冶金分析 V。1．28，Suppl．2 Z008年11月 MetallurgicalAnalysis November，2008 文章编号；l000—7571(2008)增2—1857--05 x-蔓l：t线荧光光谱法熔融制片校正物质 的不确定度探讨 丁仕兵’，刘稚，曲晓霞 (山东出入境检验检疫局，山东青岛266500) 摘 要：用X一射线荧光光谱仪熔融制片法测量时，现有标准物质的种类和含量往往不能完全 满足实际测量要求，经常要使用人工配制的校正物质。本文探讨了人工配制校正物质的称量、 熔融、测量等过程产生的不确定度，进而对混合的不均匀性进行了检查并分析了配制量。 关键词：X一射线荧光光谱法；人工配制；校正物质；熔融制片 中图分类号：0657．34 文献标识码：A x-射线荧光光谱仪在诸多领域得到了广泛 1 人工配制校正物质测量结果的不 应用，但作为一种相对测量技术，其应用范围、测 确定度 量范围、测量精度在很大程度上受到所采用的标 准物质的制约。在没有足够标准物质的情况下， 不确定度是测量结果的一个参数，校正物质 无标样分析技术可以测得样品成分的大致含 的不确定度通过工作曲线(回归计算时产生的标 量[1]，如果仅仅为了确定样品主次成分(即先了解 准差)传递给样品的测量结果。校正物质的不确 样品再进行精确分析)是足够的，但不能满足高精 定度是工作曲线不确定度的一个分量，工作曲线 度分析要求。我们尝试利用高纯度试剂(光谱纯、 导致的不确定度是测量结果不确定度的一个分 基准试剂等)人工配制校正物质，可根据待测样品 量。 的成分调整配制比例，采用熔融方式制作校正片。 校正物质的不确定度主要来源于选用试剂的 由于晶态、颗粒度等方面的影响，人工配制校正物 纯度、称量及混匀程度；熔融制片的称量及熔融时 质不适合于粉末和压片法测量。 分散的均匀性；仪器原因导致的不确定度。 人工配制校正物质最大的问题是混合均匀程 1．1 配制时称量导致的不确定度 度，其次是如何确定适当的称量以免偏差太大。 采用高纯度试剂配制，由纯度导致的不确定 人工配制校正物质并熔融制片一般有如下2种方 度可以忽略，假设所有试剂能够充分混匀，则人工 式： 配制校正物质各成分的数学模型可简单表示如 1)按一定比例称取各种高纯度试剂(包括标 下： 准物质)研磨混匀成一校正物质，再从中称取适量 (1) ci(％)一f(mi)=；}×100 熔融制片f 己mi 2)按一定比例称取各种试剂(包括标准物质， 所有试剂的称量都是独立的，没有相关性。 总量为熔融制片的量)直接熔融制片。 根据所用天平的检定证书，最大误差为0．2mg， 方式1的优点是配制的校正物质可以多次长 取包含因子是=√3，则对每种试剂由天平称量带 期使用而且每种试剂的称样量可以较大，问题是 来的标准不确定度为0．2／√3=0．115mg。根据 必须研磨混合均匀。方式2的优点是在熔融时可 不确定度传播律口]，对i成分的标准不