单粒子实验的束流均匀度测量系统.pdfVIP

单粒子实验的柬流均匀度测量系统幸 侯明东刘杰张庆祥甄红楼王志光李保权 金运范朱智勇陈晓曦刘昌龙孙友梅唐玉华 (中国科学院近代物理研究所兰州 730000) 叶宗海朱光武林云龙蔡金荣王世金都亨 (中国科学院空间科学与应用研究中心北京 100080) 擅耍：束流均匀度测量系统是单粒子效应地面模拟装置的一个组成部分，该系统采用 先进的位置灵敏光电倍增管测量束流的均匀度。其显著的特点是外部电子学线路简单t能 埘分辨高．具有非常盘』‘的位置分辨率。本文介绍了系统的组成彝I达到的性能指标。 关键词：束流均匀度测量单粒子实验加速置模拟 1引言 束流的均匀度是指待测器件位置平面上各点照射束流注量的一致性，对于均匀度的要 求实质上仍是j{c(射注量精确度的要求。束流均匀度测量系统其主要功能是给出柬流横向分 布的特性，由此推断入射到待测器件平面上的粒子数目的均匀程度。一般说米均匀度的测 量是拦截式测量。柬流均匀度的测量有多种方法。当束流较强时，可以借助发光材料如石 甍、荧光粉、等观察束流的均匀度，但难以定量。当柬流较弱时．可以州多丝正比计数或 者川微小的可以移动的粒子计数在不同位置进行测鼙。利刖吲体径迹探洲器也是一种方法， 它虽然能真实地记录F离子数目和空间的位置分布，但这种测越不是寅时的，径迹的蚀刻 年¨观测都是离线的。 考虑到上述方法存在的某些弱点，本设计中采用了先进的位置灵敏光电倍增管测量束 流的均匀度。其显著的特点是外部电子学线路简单．能量分辨高，具有非常安，的仲置分辨 率。采刚Csl加位置灵敏光电倍增管用丁二单粒子实验测量束流均匀度在国际尚属首次。 2基本原理 荷能粒子入射到闪烁体中．粒子沿其路径损失能量，导致闪烁体的原子、分子电离或 激发。这些电离或激发是不稳定的．在极短的时间内．被电离激发的原子、分子发生退激 而放出光子。利用反射物和光耦合将光子收集到位置灵敏光电倍增管的光阴极上。口光阴 极发出的光于在栅网状倍增极间倍增(整个增益在10。以上)，再由末级倍增极反射出来的 _二次电子HJ一层交义的丝型阳极(十字丝网型日!极)读取。 由丁～个入射粒子对应丁．一个特定的位置，利H4位置灵敏光电倍增管全面记录打到闪 +基垒项目t中国科学院空间科学与应用研究中心资助项目：国家自然科学基金资助项目 中田科学院“几五”罨点项目(KJ952-S1-423)： 工甜 烁体上的粒子的数目雨I位置，可以得到束流均匀度。 3均匀度测量系统组成 柬流均匀度测量系统由闪烁体、位置灵敏光电倍增管、电子学插件以及数据获取系统 缀成。图1是整个探测器及电子学仪器的示意图。 C04010LA8000 3．1闪烁体 该系统采川的闪烁体为此京二思丛品体材料有限公司生产的CsI(TI)晶体．它有如r优 电：①在空气中不潮解．封装和使用方便：②密度较大(4．59／era3)，平均原子序数也较大(Cs：55， 1：53)，对荷能粒子的阻Ir本领相对较大，故体积可以做得较小；③机械强度火．能耐受较 大的冲击和振动以及较人的温度变化而不容易碎裂，容易加-I成薄片；④发光效率高，且 光透明性蚶。 为了适应不同种类和能量入射离子实验的需要，订购有三种尺寸闪烁体可供选用： 的mylar|{；；；敲光。 3．2位置灵敏光电倍增管 该系统选用的是日本fIAMAMATSu公司生产的R2487型位置灵敏光电倍增管，该管为栅 网掣倍增极．由光电面发射的光电子．经12级栅网型倍增极的倍增，再由末级反射型倍增 极反射出来的次级电子川二层交叉的十字丝网型阳极读取。在1250伏的i=作电压下，电流 Jam2，阳 增益可达101以上。R2487位置灵敏光电倍增管入射窗外型为方犁，其尺寸为78x78 极X方向由16根丝组成，Y方向由18根丝组成。阿{极丝间有外接电阻连接。光电倍增管 的读取采埘十字型丝状阳极的重心计算方法。从末级倍增极发射的电子群打到x、Y两个 方向的丝状刚极上，沿xa、xb、Yc、Yd方向分流。阳极收集到的电荷的重心就表示了