测定粉末平均粒度的新方法——投影面积法.pdfVIP

Vol-10N0．1 粉末冶金技术 PowderMetallurgyTechnology 测定粉末平均粒度的新方法 — — 投影面积法 郭 国 湖 (洛阳束 f钔让公司冶炼加工厂．倍阳 471500 摘要 介绍一种通过投影面寰来划定粉末平均粒度的方法。由一束均匀的 平行光通过 已知重量和密度，分布于菠体夼质 中的粉末体，用光电元件检 测其遮光面积，从而计算出粉末的平均粒度。同时舟绍了仪器的结柯。实 验结果表明，投影面积法 的测试结果与费氏法接近 ，并具有较好的重复性。 关键词 粉末粒度 投影面积法 测定粉末体粒度的方法主要有沉降天平 法，光透法及费 氏法。但是由于测试方法的 S=X·(-争) () 差别，测出的数据往往差别较大。特别是沉 设单个粒子平均体积为 ，则 降天平法和光透法，不仅使用的仪器费用较 高，而且在测试过 程中需 要 引入一些参量 (沉降介质 的粘度，比重、环境温度、时 间 = 詈 (号) 等)，配套仪器也比较多，因此在一些小厂 难以得到应用。而费 氏法困所用样品较多， 所 以 x： (2) dD0 测试时往往须压缩样品，所 以贵金属和易碎 将(2)式代入 (1)式，得 粉末不易测试}有些粉末 (如钨 ，钼粉)则 因难 以找出最佳孔隙度，因此澳试『这类粉末 s—x．㈢ 时实验结果的重复性较差。为此，笔者采用 了另一种方法——投影面积法测定粉末体 的 即 = (3) 平均粒度 。 1 投膨面积法的理论基础 式中 w——称样重量，g 与光透法一样，投影面积法也是利用测 d——粉末样品理论密度，g／crgtt 光信号的变化量来测定粉末平均粒度的。但 S——样品总投影面积，cm。 投影面积法只能测出粉末体的平均粒度，不 D——粉末平均粒径，cm 能测定粉末的粒度分布。 根据光 电转换元件的特性，有如下关系 设有重量为w，密度为 d的粒度相近或 式。 A=KC (4) 粒度成正态分布 (实际上，一般的粉末体均 式中 A——光 电转换器输出的电讯号量 接近正态分布)的球状粉末，含有平均粒径 (电流或 电压)，A 为D的x个颗粒，总投影面积 (球体颗粒最 K——常数，A／lm 大截面积之和)为s，则 — — 照射到光电元件的 通晕，lm 耕 束 冶 金 技 术 V0I．10 当照射到光电元件 l二的光强度一定时， 表)。若采用 自动平衡记录仪，为保证记录 光通量与透光面棼l成正比。(4)式可 改写 仪示值与光通量成正比关系，硒光电池的复 成l