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第27卷第3期 原 子 与 分 子 物 理 学 报 V01．27No．3 2010年6月 JOURNALOFATOMICANDMoLECULARPHYSICS Jun．2010 doi：103969／j．issn．1000—0364．2010．03．028 利用X射线衍射研究聚晶金刚石 复合片的残余应力 宋全胜1’2，秦家千3，汪宏菊3，寇自力3 (1．华中科技大学材料科学与工程学院，武汉430223， 2．江汉石油钻头股份有限公司。武汉430223； 3．四川大学原子与分子物理研究所，成都610065) 摘要：通过X射线衍射方法研究了聚晶金刖石复合片中金刚石层内的宏现残余应力以及微观残余应力． 宏观残余应力通过测量X射线衍射的峰值移动可以计算出来，微观残余应力由X射线衍射的峰形宽化决 定．本文研究结果表明：我们研究的三种型号聚晶金刚石复合片中存在着宏现残余压应力和微观残余张应 力，并且发现宏观残余压应力和微现残余张应力的大小随着金刚石平均粒径的增大而减小，根据x射线衍 射研究表明这可能是由于随着金刚石粒径的增大，聚晶金刚石复合片中金刚石相的减少而非金刖石相的 增加造成的．x射线衍射技术可以非破坏性的洲量宏现和微观残余应力的大小，因此，这是一种很好的检测 聚晶金刚石复合片中残余应力的方法，并可以通过应力的大小来优化聚晶金刚石复合片的最佳组分和工 艺，同时也可以给出聚晶全刚石复合片的最佳工作条件． 关键词：聚晶金刚石复合片IX射线衍射I宏现应力}微观应力 中图分类号：0348．6；0521+．9文献标识码：A 文章编号：1000—0364(2010)03—0545一06 A ofstressin diamond study polycrystalline diffraction compact(PDC)usingX。ray SONG Zi—Li3 Quan-Shen91”，QINJia-Qian3，WANGHong-Ju3，KOU r ofMaterialsScienceand UniversityofScienceand 430223，China1 (1．College Engineering，Huazhong Technology。Wuhan PublicLimited 2．Kingdream Compan多。Wuhan430223，China； 3．InstituteofAtomicandMolecular University，Chengdu610065。China) Physics，Sichuan Abstract：Themacroandmicroresidualstressofdiamondin diamond was layerPolycrystallinecompact ismeasuredtheXRD andmi— diffraction(XRD)．Macro-stress investigatedusi