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高速放大器制程新技术满足新一代低功耗应用需求.pdf
模 拟 技 术
高速放大器制程新技术满足
新一代低功耗应用需求
◆德州仪器高速放大器策略营销部门
Karki
/James
新一代无线应用、自动化测试与测量.医疗仪器 的重大突破. BiCom-III正是这类工艺技术创新的
及图像处理、便携式运算装置等都需要高效能模拟组 一例。
件.并且对其低功耗的效能要求日益提高。现今厂商
运用进阶工艺技术来满足此一要求.例如第三代完全 BiCom-llI工艺概览
介电隔离式互补双极工艺BiCom-III。
多年来.高效能模拟设计都需采用分支供电电
压(splitpower (SiGe)工艺。这是在基极区添加锗的介电隔离式硅基
supplyvoltage).才能完全发挥既有
isolatedsi icon-based
放大器的全部效能,例如4-15V.±8V和最近的工艺(dielectrically process).
士5V。如今的高效能模拟趋向使用+5V.+3V与更在基极区添加锗可大幅提升载波机动性,并达到极
低电压的单电源,这不仅能够降低产生的电压,让电 快速的瞬时时间。此工艺可生产出真正互补的双极
源成本随之减少.而且更可节省低功耗应用的能源。 H
然而,如果信号的可用电压摆幅也必须减少,则模拟
设计中极为重要的可用动态范围势必同样受到影响。 互补晶体管可实现AB类放大器等级,这对高速.高效
动态范围的两项重要数据是信噪比(SNR)与无能的模拟电路设计来说极度重要。
噪声动态范围(SFDR)。SNR是信号等级除以噪声:
斓-裂而SFDR是信号等级除以最大混附信号:体管运作而设计,可达到18GHZ~19 GHz范围
涮.型 GH
的fT值,并达到40
o
Sp,I
噪声可分为许多种类.在放大器中,噪声主要 值。与同类型互补技术的效能相比。其fT值反映出几
包含闪烁噪声(通常称为1/f噪声.因为与频率呈近三倍的提升程度。介电隔离式晶体管可将集极到基
1:1的反对数相依性)。热噪声及射噪声。在放大器板的寄生现象减至最低,这些寄生参数会影响晶体管
中.其非线性会造成谐波失真或互调,进而产生混附 的高频率效能。
信号。 这项技术还能为高速运算放大器带来许多优点.
在运算放大器中.电源电压的降低一般会导致
信号等级降低,这是因为可用来操作放大器内部晶体
管的电压降低。当噪声与失真维持不变时.SNR与生电容的介电隔离(DI)(或称为绝缘体层上覆硅.
SFDR也会相应降低。为了重新恢复动态范围,制造S01).以及极高的晶体管电流增益与尔利电压(early
x
运算放大器时采用的工艺与架构必须具备绝佳的噪声 voltage)相乘乘积(DV。).进而达到更高的放大
与失真效能,而且晶体管正常运作时所需的固定电源 器增益。
必须减少,这的确需要工艺技术与进阶电路架构方面 此外.此工艺也包括CMOSFET.可使高度复杂
2000.04/电子与电脑一47
的数字功能整合在芯片上.以达到绝佳的模拟效能。 CMOS晶体管
NPN与PNP双极晶体管
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