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沈理： 时序电路的时序深度分析及基r遗传算址的初始化
时序电路的时序深度分析及基于遗传算法的初始化
沈理
中国科学院计算技术研究所，北京．100080
ac．crI
E·mail：Ishen@gsc，ict
接要基于遗传算法的时序电路测试生成需要确邂测试序列长度参数，这与l乜路时序渫度有关。本文定义逻
辑时序深度概念，提出一种时序深度测度—计序元件可达性，并Ⅲr研究基】：遗传算法的时序电路韧始化问题。
关键词时序测试，时序深度分析，遗传算法，初始化
andGenetic BasedInitialization
SequentialDepthAnalysis Algorithm
for
SequentialCircui招
LiShen
Institute ofSciences
ofComputingT。chnology,ChineseAcademy
Bering,100080
ict．∞．cn
Bmail：hhen@gsc
AbstractTest isorleof forthe basedtest of
sequencelongth parametersgenetic sequential
algorithm generation
circuits．ItismlaledtotIIe ofcircuits．In
sequence the oflogic isdefinedanda
depth pager,theconcept seqtIencedepth
me．a¨rc——the element is the basedinitializationof
depth sequentialreadmbHityproposed．Therkgeneticalgorithm
cimaltsisdiscmsod．
sequential
Kcywords
sequentialtesting．sequentialdepthanalysis，gencdcalgorithm,initialization．
1．引言
随着数字电路集成度不断的提高，VLSI的测试问题更为复杂。因此VLS]时序电路的ATPG
仍为目前所关注的研究课题。时序电路测试生成的传统方法采用迭代组合模型，仅适用于中规
模电路。基于模拟的方法利用故障模拟确认测试向量，算法简单，适用于大规模的时序电路。
但测试生成的质量往往不高，关键问题是如何有效地构造
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