双向可控硅静电防护器件与应用.pdfVIP

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双向可控硅静电防护器件的应用 李亮 苏州市职业大学电子系 朱科翰 昆泰集成电路(上海)有限公司 电邮:prcken@ k 发言人:李亮 l a T D S E Chrontel 提纲 1. 芯片静电防护的瓶颈 2. 双向可控硅静电防护器件结构 3. 此双向器件的应用 4. 结论与展望 k l a T D S E Chrontel 芯片静电防护的瓶颈 • 随着半导体工艺特征尺寸进入纳米时代,在 限定的芯片面积内,功能模块集成度增加, 迫使芯片内静电防护器件的面积减小。但是 外界的静电并没减小,所以芯片受到静电的 威胁加重。 • 急需一种结构紧凑,抗击静电性能优良的静 电防护结构。 k l a T D S E Chrontel 双向可控硅静电防护器件结构 k l a T 双向可控硅器件结构和寄生电路图 D S E Chrontel 双向可控硅静电防护器件应用 k l a T 作为输入静电防护时的等效电路图 D S E Chrontel 不同电源线之间采用二极管连接 k l a T D S Ref.: Ming-Dou, K., C. Hun-Hsien, and C. Tung-Yang. ESD buses for whole-chip ESD E protection. in Circuits and Systems, 1999. ISCAS 99. Proceedings of the 1999 IEEE International Symposium on. 1999. Chrontel 双向可控硅代替二极管 k 不同电源线或静电总线之间的应用 l a T D S E Chrontel 此应用中二极管的缺点和双向可控硅的优点 • 串联二极管可能存在达林顿效应,使得正 向导通压降减小 •二极管的个数由两边电压之差和噪声容限 决定。 •二极管的正向导通电压低,要考虑上电时 序的问题。 •而使用一个双向可控硅器件,上述问题基 k l a T 本上解决 D S E

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