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双向可控硅静电防护器件的应用
李亮
苏州市职业大学电子系
朱科翰
昆泰集成电路(上海)有限公司
电邮:prcken@
k 发言人:李亮
l
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Chrontel
提纲
1. 芯片静电防护的瓶颈
2. 双向可控硅静电防护器件结构
3. 此双向器件的应用
4. 结论与展望
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Chrontel
芯片静电防护的瓶颈
• 随着半导体工艺特征尺寸进入纳米时代,在
限定的芯片面积内,功能模块集成度增加,
迫使芯片内静电防护器件的面积减小。但是
外界的静电并没减小,所以芯片受到静电的
威胁加重。
• 急需一种结构紧凑,抗击静电性能优良的静
电防护结构。
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Chrontel
双向可控硅静电防护器件结构
k
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a
T 双向可控硅器件结构和寄生电路图
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Chrontel
双向可控硅静电防护器件应用
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作为输入静电防护时的等效电路图
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Chrontel
不同电源线之间采用二极管连接
k
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T
D
S Ref.: Ming-Dou, K., C. Hun-Hsien, and C. Tung-Yang. ESD buses for whole-chip ESD
E protection. in Circuits and Systems, 1999. ISCAS 99. Proceedings of the 1999 IEEE
International Symposium on. 1999. Chrontel
双向可控硅代替二极管
k 不同电源线或静电总线之间的应用
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Chrontel
此应用中二极管的缺点和双向可控硅的优点
• 串联二极管可能存在达林顿效应,使得正
向导通压降减小
•二极管的个数由两边电压之差和噪声容限
决定。
•二极管的正向导通电压低,要考虑上电时
序的问题。
•而使用一个双向可控硅器件,上述问题基
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T 本上解决
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