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第40卷第7期专刊 计算机 科学 V01．40No．7
r、’
2013年7月 3clence 2013
Computer July
FPGA测试的研究发展
董寅冬 王 伟 张 欢 杨国兵 陈 田 李润丰
3000
(合肥工业大学计算机与信息学院 合肥2 9)
000
(情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室 合肥23 9)
摘 要 随着FPGA集成度和微电子工艺的提升，其系统的复杂性必然导致电路中存在各种故障的隐患，因此，为
了保证整个芯片的可靠性和安全性，对FPGA的测试尤为重要。目前，测试成为影响FPGA产业发展的重要因素，
的热点和发展趋势进行了展望和探讨。该研究对FPGA测试发展具有深远的意义。
关键词 现场可编程门阵列，测试，静态随机访问存储器
中图法分类号TN407文献标识码A
FPGATestResearchand
Development
WANGWei HuanYANG TianLI
DONG ZHANG CHEN
Yin-dong Guo—bing Run-feng
of and of 23000
(Sch001ComputerInformation，HefeiUniversityTechnology，Hefei9，China)
Province ofAffective andAdvanced
(Anhui Machine，Hefei
KeyLaboratory Computing Intelligent
AbstractWiththe oftheFPGA andmicroelectronics ofthe
upgrade integration technology，thecomplexitysystem
will 1eadtothehidden ofvariousfaultcircuit，therefore，inordertoensurethe andsecuri-
inevitably dangers reliability
oftheentire is hasbecome factorsthataf—
ty chip，FPGAtestingparticularlyimportant，currently，testingimportant
fecttheFPGA this introduce andcharacteristicsof
industrydevelopment．Instudy，first，webackground FPG
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