CCD长时间积分边角亮光的实验研究.pdf

第 36 卷第 9 期 光 　子 　学 　报 Vol . 36 No . 9 2007 年 9 月 　　　　　　　　　　　　 Sep t ember 2007 A C TA P HO TON ICA SIN ICA CCD 长时间积分边角亮光的实验研究 邱虹云 ,刘阳 ,孙利群 , 田芊 (清华大学 精密测试技术及仪器国家重点实验室 ,北京 100084) 摘 　要 :通过实验定量研究了 ICX4 12 CCD 芯片在不同积分时间下的边角亮光的强度特征 ,并通过 对 CCD 表面的拍摄 ,发现边角亮光的出现是由于 CCD 感光区域周边的两个辐射光源产生的近红 ( ) 外辐射 分析了黑场矫正方法对图像均方差 STD 影响 ,并研究了在积分过程中通过降低发光区 域电路供电电压 ,再采用黑场矫正等手段消除了边角亮光对 CCD 长时间积分背景强度及 STD 的 影响 关键词 :CCD ;长时间积分 ;边角亮光 ; 图像校正 中图分类号 : TB874 　　　　文献标识码 :A 　　　　文章编号 :100442 13 (2007) 0917055 0 　引言 型天文制冷 CCD 的边角亮光 ,积分时间为 5 min ( ) 图 1 b 是 N I KON D50 数码单反相机在积分时间 随着生产工艺及技术的进步 ,CCD 探测器件的 ( 为 5 min 的时的边角亮光 在完全黑暗环境中拍摄 , 各项性能近年来获得较大的改善 作为图像获取的 ) ISO 100 可见在长时间积分拍摄中 ,边角亮光对于 关键器件 ,CCD 目前已经广泛地应用于各类科研及 图像有比较大的影响 ,对于荧光图像检测 ,荧光光谱 民用领域[ 12 ] 在生物荧光检测 、化学发光探测 、航 检测等弱光信号检测的应用来说 ,边角亮光会导致 天及天文记录等研究领域 , 当研究对象在一定时间 数据的偏差和不确定 内保持相对静止时 ,利用 CCD 器件进行长时间积 分 ,在像素上对暗弱拍摄 目标发出的光子进行累积 , 是获得高分辨率和高信噪比的弱光物体图像的最佳 途径之一 而 CCD 器件在进行长时间积分时 ,器件 的工作特性和短时间积分相比有较多的差异 ,产生 诸多影响图像质量的因素[35 ] CCD 在进行积分的过程中 ,不仅光生电荷被积 分 ,其他进入势阱区域内的电荷也被积分 影响最 图 1 　不同相机在曝光 5 min 时的边角亮光 为显著的是热噪音 在长时间积分的应用中 ,可以 Fig . 1 　Corner glow in different camera at 5 min expo sure 通过半导体制冷或液氮制冷的方法 ,降低 CCD 芯片 ICX4 12 是像元数规模为 2 140 ×1 560 的面阵 的温度 ,可以大幅度降低热噪音积分对图像的影响 CCD 图像传感器[4 ] ,芯片有效感光面积为 8 . 10 mm μ μ 在降低热噪音对 CCD 长时间积分的影响