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- 2017-08-08 发布于重庆
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常用分析仪器知识.pdf
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常用分析仪器知识
一、 绪 论
1. 与我们制程产品相关,所使用的相对复杂一些的仪器包括以下:
1)原子吸收分光光度仪(AAS )
2 )紫外-可见分光光度仪(UV-VIS )
3 )循环伏安分析仪(CVS )
4 )X 射线能量色散光谱仪(EDX )
5 )扫描电子显微镜(SEM )
6 )X 射线测厚仪(XRF 测厚)
2. 用仪器综述
1)按仪器的通常分类,AAS、XRF 测厚、EDX (其实也是属于XRF 的一种)
和UV 都是属于光谱仪;CVS 属于电化学仪器;SEM 属于电镜仪器。
2 )SEM 通常可与XRF 测厚和EDX 联合使用,有些EDX 机器也同时兼具XRF
测厚功能,从相关 见的分析报告可同时看到样品的SEM 图和分析测量的
结果图表。
3 )AAS 、UV、XRF 测厚、EDX 和CVS 都是使用分析比较技术,要求进入仪
器测试的标准样品和未知样品具有相似性和重现性,简而言之,样品测试前
需要作校正和样品处理。
二、 AAS
1. AAS 定量分析原理和仪器结构组成
1)分析原理:原子吸收的过程是当基态原子吸收某些特定波长的能量由基态
激发态。根据Lambert-Beer 定律,吸收值与浓度成正比关系,从标准溶液
作出校正曲线后,再读出未知溶液的浓度。原子吸收分光光度仪即是利用原
子化器将样品原子蒸气化后,吸收某一特定波长光,此光来自空心阴极灯管,
再经过光学系统分光经由单光器过滤仅有要测的波长光进入侦测器。
2 )仪器组成:A.放射光源(空心阴极管或EDL 灯管) ;B.样品导入装置-简易雾
化器;C.火焰式原子化器;D.分光仪(Echell 分光系统) ;E.侦测器(固态半导
体)
2. 缺点
1)优点:A.可做多种金属元素的定量分析(约70 多个).
B.可用间接法测定非金属元素和有机化合物.
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C.热机时间较短 (约5 分钟)
2 )缺点:A.一次只能分析一个元素,分析速度慢
B.每种元素需要更换专用的灯管
3. 基本功能和仪器用途
1)主要用于金属元素测定,可测定70 余种元素。利用间接法亦可测定非金属
元素和有机化合物.
2 )制程产品需要用 AAS 的有:化银线银子、铜离子杂质离子的测定,PTH
线部分槽液杂质离子的测定等
三、 UV-VIS
1. UV-VIS 定量分析原理和仪器结构组成
1)分析原理:当特定强度的入射光束(Incident beam) 通过装有均匀待测物的
介质时,该光束将被部分吸收,未被吸收的光将透过(Emergent)待测物溶液
以及通过散射(Scattering)、反射(Reflection),包括在液面和容器表面的反射)
而损失,这种损失有时可达 10%,在样品测量时必须同时采用参比池和参
比溶
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