液体阴极辉光放电原子发射光谱法分析硅酸钇镥中痕量杂质元素.pdfVIP

第42 卷 分析化学 (FENXI HUAXUE) 研究报告 第11 期 2014 年11 月 Chinese Journal of Analytical Chemistry 1617 ~1622 DOI:10.11895/j.issn.0253-3820.140636 液体阴极辉光放电原子发射光谱法 分析硅酸钇镥中痕量杂质元素 1,2 *2 1 2 2 2,3 盖荣银 汪正 贺岩峰 李青 邹慧君 张国霞 1 2 (长春工业大学化学工程学院,长春 130012) (中国科学院上海硅酸盐研究所,上海200050) 3(华东理工大学,上海200237) 摘 要 采用液体阴极辉光放电原子发射光谱(Solution-cathodeglowdischarge-atomicemissionspectrometry, SCGD-AES)法测定了硅酸钇镥(Lutetium-YttriumOrthosilicate,LYSO)闪烁晶体材料中痕量元素Ca,Fe,K, Li,Mg和Na。 最佳实验条件是溶液pH为1的HNO ,直流电压为1080V,溶液流速为2.0mL/min。 本方法 3 对LYSO基体的耐盐量为10g/L。 硅酸钇镥晶体使用HNO ,HF,HClO 溶解后经SCGD-AES分析测定,结果 3 4 同电感耦合等离子体发射光谱(Inductivelycoupledplasma-atomicemissionspectroscopy,ICP-AES)和电感耦合 等离子体质谱(Inductivelycoupledplasma-massspectroscopy,ICP-MS)分析结果比对,具有较好的一致性。 在 运用SCGD-AES对LYSO 的测定中,未观察到Lu、Y元素的激发谱线,因此测定LYSO 中痕量元素时测定的光 谱干扰少,Ca,Fe,K,Li,Mg和Na 的检出限分别为:1.0,3.0,0.02,0.01,0.02和1.0mg/kg。 关键词 液体阴极辉光放电原子发射光谱;硅酸钇镥;痕量元素 1 引 言 硅酸钇镥闪烁晶体(LYSO)以其高光输出、快发光衰减、有效原子序数多、密度大等特性引起国际 闪烁晶体届的极大关注,并且物化性质稳定、不潮解、对γ射线探测效率高,被认为是综合性能最好的 无机闪烁晶体材料,是未来替代NaI(T1)、BGO 的理想SPECT 和PET用闪烁晶体。 此外,LYSO晶体在 [1,2] 高能物理、核物理、油井钻探、安全检查、环境检查等领域也具有广泛的应用 。 微量元素的含量对硅 [3,4] 酸钇镥闪烁晶体的性能有很大的影响,因此测定其中痕量元素的含量对控制其质量具有重要意义 。