一种基于DSP芯片ADSP-2106x的应用开发和测试系统.pdfVIP

一种基于DSP芯片ADSP-2106x的应用开发和测试系统.pdf

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1 一种基于DSP芯片ADSP-206x的 应用开发与测试系统 倪菁黄银河蒋志焱郝明张飚李华 . e (南京电予技术研究所 南京 210013) 【摘要】 本文介绍,‘种皋十ADSP 2105x.匕片的应用开发与测试系统.该系统既能用十单片 ADSIk2106x芯片的开发与测试,迁可以进行两,}.tDSP:106x间的系统开发与测试。 【关键词】数字信甘处理器.f”一用开发,』由能河试.仿真 拿 1、引言 随着畜达技术的不断发展,现代害“=系统对信号处理机的要求也越来越高。.新的信号 处理机不仅要有极高的处理速噎,还要能在动态范再、精度、体积、可扩充性等诸多方面适 应新的不断发鼹变化的要求cDSP芯片集成度高.体积小.运算速度快,整个芯片是完全可 塥程的,通州性和灵活性女,.通mL J多,较女,地解决了数据瓶颈:强人的浮点处理能力使其 J司时具有人动态范阐和高精宦两项优舟.完全能够满足现代雷逃系统对这两项指柯:的要求。 系统由一套硬什开发平台和相应的软r{.开发环境所卵成。硬件平台包括两块芯片及配套的芯 片外闱电路,果}}J计算机进{i控制。本套系统不仅具有开发平¨测试单片芯片的能力,同时还 具秦了多芯片环境r系统开发的能力,从而为芯片的_二玖开发提供了一套全面的硬件仿真环 境c殴计人员可以在此平喜上对ADsP一:106x芯片的结构特电、可调刚的资源、捐·令系统等 进行摸索和试验,前。可编制徉『F对芯片的各项功能逆行硬f,}:仿真.从而能很快熟悉芯片的特 性,并进行二:,:}}发。软¨系统jJl|J不L}i了肚界上并名的BSP涸试【.具生产商ⅥhittMountains 公rd的产晶,山Ⅵ户提供r拌序的编制、编泽、近行t及涸试环境。方便实心,功能强人。 咳套系统的冗一项重要功能是对9啕:j=;剑的DSP芯片进行全面的功能测斌。一股芯片住 d;J时已经过严格的检测.血庄远输过烈中可能会冈为温度、潮湿、碰撞等原冈导致芯片出 fo]题;山,1)SP.0片自身的复jj。r蔓.这些问题不易暴:露,只订庄装机后的谭试过{¥才会被发 I.州。本套系统就是为解,儿上述问既而ⅡⅡ制的。 . 2、系统组成及功能介绍 本系统f||硬什甲台和软”王1:境两部分组成。其中,硬僻平台包括主控计算机、测试印 毒 制扳、总线接口}、数据传送电缆和芯片阔试I.具的硬”部分(适配}和、JTAG接头)。软件 环境为Hh“e\10unt“ins尘司提供^0ADS[’一210(;x芯/;的调试环境Emul“0i以及自编的测试 雅宁。系统樵幽如崮1所示。 2 1测试印制扳 洲试印制扳j皂本系统响重要自l成部分。它包括时钟发生电路、标准JT,、G接[I、人容龄 —-S22一 静态存储器、对外数据接口及互连电路。测试印制板的系统组成与接口框图如图2所示。 ● ● 圈1 』j:用*鉴和测试系统榧蚓 2 1.1时钟发生电路 的稳定性手¨驱动能力.还采用了一片高速时钟多路驱动芯片,分别为两块DSP芯片提供时钟 信号,并在布线时对时钟线采取了屏

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