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着色探伤剂中抽质的有害影响与控制 着色探伤剂中杂质的有害影响与控制 赵洪有 郏家勋 [中日合资美柯达探伤器材(：：)有限公司] 奠萎本文论述着色探伤荆中杂质构成有害影响的机理、种种表现和控制措施，并介绍 两种笔者单位研制出符合规范的探伤剂。 OF 州哝—FlJLEF陌CT^—DC0●盯圈DL I■ⅢRIT．rIN T哐咖l№FL脯畦T印T删 Zh-胡∞|YⅢZhengJiaXun [MARKTECFLAWDETECTIONMATERIAL(；裟：：：．)co，LTD】 Ab*tractThis desca-ibeharmful mcchatfisma stem paper from cffccts“¨p∞c varietyofexpress impurity inthe flawdetectorandit’Scontr01．alsointroducetWO be t0thostaadardsarcmade coloring detector they of up ⅫuniL 一， 引言 着色渗透检验法因有快速、简便、全面、经济、直观等优点．因而已成为各种各样非 孔性固体材料，尤其是非铁磁性材料及其制件表面开口缺陷的一种最普遍应用的无损检测 方法。为了保证此法具有足够的检出缺陷能力，充分体现无损于被检件完整性、材料性能 和使用性能的特长．包括科研、制造和应用在内的广大尢损检测工作者，迄今仍根重视致 力于作为检验用材的由渗透剂、去除剂、显像剂等组成的着色探伤剂各自成份、性能、如 何正确使用与扩大应用方面对探索开发，而且也对它们的有害影响给予越来越多的关注。 本文论述的，即是笔者对着色探伤刺中一些杂质对被检件有害影响的认识，以及为尽可能 减少有害影响可采取的控制措施。 二、 构成有害影响的机理 着色渗透探伤剂中，源于所用溶剂与溶质等原材料不纯而包容的以及在配制和使用过 程中受环境大气、容器与其它设旖、被检部件沾污的硫、氯、氟或其化合物等杂质。一般 来说，只要在完成检验之后，将残留于被检表面上的探伤剂及时进行彻底清除，对被检是 无害的。然而，假如一种或几种杂质的含量超过一定限度；且被检件自身存在薄弱环节与 先天不足，其所处环境、工质与工况具有充分促使作某些相互作用的条件时，则有可能对 被检件构成有害的影响。 杂质种类甚多．形态不一，但其致害机理，大致上可描述如下： (1)残留于被检表蕊，尤其是积聚在沟、槽、孔、缝等部位的杂质浓度本来已较高的探伤 剂，在自然环境下或工作环境下挥发或蒸发，继而干涸、粘结，形成杂质更为富集的 覆层。 (2)此覆层中的杂质的状态，可能是与探伤剂主要组分不相结合而呈自由状态的，也可能 是与探伤剂主要组分牢固稳定结合的化合状态或者是与探伤剂主要组分结合不牢固和 不稳定的机械粘结状态。后两种状态的杂质，由于它们被其原子团束缚或被集结体率 制，因而只有在它们的原子团或集结体被外界能量或介质破坏，且得以分解、析出， 并转变为游离的离子或分予时，才会象自由状态的杂质一样与被检表面进行相互效应 531 着色探伤剂中杂质的有害影响与控制 而致害j二后乳促使化台状态或机械粘结状态的杂质转变成自由状态的方式，在着色 渗透检验中较j多遇到的有：1，在高通量粒子束或高能射线束辐照下，牢固束缚于原子 团原子核中构杂质原子，受轰击而跃出：2，在热