强激光系统光学元件波前相位梯度分析.pdfVIP

　第 15 卷 　第 2 期 强 激 光 与 粒 子 束 Vol. 15 ,No. 2 　 　2003 年 2 月 HIGH POWER LASER AND PARTICL E BEAMS Feb. ,2003 　 文章编号 : (2003) 强激光系统光学元件波前相位梯度分析 1 ,2 2 1 1 张蓉竹 , 　石琦凯 , 　江腾蛟 , 　蔡邦维 ( 1. 四川大学 电子信息学院 光电系, 四川 成都 610064 ; 　2 . 成都精密光学工程研究中心, 四川 成都 610041) 　　摘 　要 : 　介绍了在高功率固体激光系统中用于评价光学元件对光束聚焦特性影响的参数 ———波前相位 梯度及其检测原理和计算方法 ,并与常用的光学元件评价参数 PV 值、RMS 值以及新引入的评价方式 ——— PSD 进行了比较。得到了高功率激光系统中几种典型光学元件的相位梯度分析结果 ,结果表明利用相位梯度 分析方法能够有效的对光学元件的加工质量进行评价。 　　关键词 : 　波前相位梯度 ; 　光学元件 ; 　强激光系统 　　中图分类号 : 　TN241 　　　　文献标识码 : 　A ( ) 　　惯性约束核聚变 ICF 是目前实现可控核聚变能量利用的主要研究方向 ,要实现靶核聚变从而放出核能 的过程 ,必须要有足够的激光能量注入。在 ICF 驱动系统中 ,为了防止由于能量过于集中而产生的各类非线 性效应 ,整个系统都采用了大口径光学元件以获得大截面半径的激光光束 ,从而将光束的能量进行分散。大口 径光束最终又要经过聚焦成为足够小的、能量集中的光斑通过靶洞进入靶室[4 ] 。因此光斑的尺寸、功率密度、 光学质量等成为核聚变产生的必须满足的前提条件。光学元件的加工质量是影响激光光束质量的众多因素中 最主要的因素之一 ,它直接关系着光束的聚焦性能 ,要达到 ICF 系统需要的聚焦光斑性能要求 ,必须对光学元 件的加工质量进行精确的评价和严格的控制[8 ] 。 　　在光学检测评价中 ,有多种参数可供使用 ,常用的有 PV 、RMS ,它们都能很好地描述元件整个表面的统计 ( ) [1 ,2 ] 性质 ,但能够更直接与光束经传输后的聚焦特性相联系的参数是波前相位均方根梯度 RMS Gradient 。 1 　波前相位梯度的定义及特点 　　在波前分析中 ,一个波前相位分布函数 ( x , y) 沿 x 或y 方向的梯度表示为[7 ] ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) gx x , y = x , y , 　gy x , y = x , y 1 x y 整个元件表面总的梯度分布函数则可表示为 ( ) ( ) 2 ( ) 2 ( ) g x , y =