高能电子辐照对LIA束参数测量系统电子器件电性能影响.pdfVIP

236 全国信息与电子工程第四届暨四JIl省电子学会曙光分会第十五届学术年会论文集 I 高能电子辐照对LA束参数测量系统 电子器件电性能的影响 王远’江孝国 朱隽 李成刚 禹海军 张开志 (中国工程物理研究院流体物理研究所四川 绵阳621900) 摘要束流参数测量能够给柬流调试提供可靠的依据，也可以提高闪光照相的空间分辨率。 在L队柬参数测量系统实验的基础上，给蹬了柬参数测量系统的实验布局和特点，分析高能电子辐 照对LIA中测量系统电子器件器电性能的影响和变化规律；进一步探讨电子器件电性能受高能电子 辐照后的抑制措施。针对电磁空间干扰情况，主要通过采用光纤传输控制信号的措施，能很好地传 输窄脉冲，信号延时抖动小，达到了高速信号的可靠传输要求，利用紧凑嵌入式方法，提高了抗电 磁干扰的能力，这样可以更好的保护束参数测量电子器件。 。