波形取样斜率比内插定时方法研究.pdfVIP

第9屠垒国棱电子学与棱探涮技术学术年会论文橐 l}Ie蛐№l酬col订啪瞄∞№cI鲫EJeclr∞Ics№b暂Dd【。ct两弛寸删。吖 Proceedin事of 波形取样斜率比内插定时方法的研究 房宗良席德明 (中国科学院高能物理研究所t北京918信箱6分箱，100039) 本文研究了一种新的波形取样内插定时的原理和方法．讨论了实验数据的精度以爰鬟直精度的逮径． 关■调，波形取样辩率比内插定时模拟数字变换量化误差 1引言 在棱科学技术，高能物理实验中．往往需要测量探澍嚣信号到达的时封．其中大多数情况 是被测信号的波形形状基本不变而幅度随能量变化．采用取样对渡形进行定时的方法有·(1) 参考脉冲定时法、(2)重心法、(3)前沿定时法、(4)阈值定时法、(5)取样差分法等“～．这些方法 大多需要较多的取样点，一般适用于较慢的信号波形．在新一代高癌物理实验中．对擅周期短、 事例率高、数据通道多．要求定时快且满足一定的精度．提高取样频率可l：l改善定时精度和缩 短定时时间．但对有成千上万个通道的电子学系统而言。提高每通道的取样频率将使设计难度 和成本大大增加．甚至到不可承受的地步．为此．我们提出一种用波形取样数据进行斜率比内 插定时的方法．这种方祛在同一测量糖度下，可降低取样频率。从而降低成本及硬件实现的难 度，算法简单快速．易于实现，只需要少量取样点．换句话说，在同—取样囊宰下。斜率比内插定 时可以提高测量精度．下面我们介绍这种方法的原理、实验系统和部分测量结果． 2波形取样斜率比内插定时方法 探测器输出的电流波形通常具有很短的上升时间和较长的衰落时间．一般情况下，上升 时间小于取样周期的话，定时精度不能比取样周期还小．因此．要想找到信号到达时劐，只有 用它的积分波形．比较方便的就是用电荷收集波形．在电路上。可以用电流波形通过电荷灵敏 放大器得到． 2．1指数衰落的电浇波形 核电子学分析探测器电流波形时往往是用指数衰落波形．闪烁计数器的输出基本上是指 数衰落波形．我们首先从指数衰落的电流波形开始来研究这个问题． 设，(t)为电荷收集波形．在波形到达后连续取三个取样点．从理论上讲，由这三个取样点 可以确定这条曲线，也就是可以确定信号到达时翔．如果口是第一取样点的时翔，r为取样周 期．则三个取样点分别为(口t，。)t(口+丁，，1)t(口十2T，孔)．由此，可以解得 口：T≮唼二型善≤坚：丝掣 (1) mU2一了lJ—mU3一孔J 即使对于指数衰落的电流波形这种比较简单的情况来讲，计算起来也是比较繁琐复杂的．因 此，我们提出了一种新的方法，称之为斜率比内插定时法． 88 众所周知，用较低频率达到较高定时 精度的方法之一是内插．在对指数波理论 求解的过程中我们发现，指数积分波形的 等间距取样点的斜率比是恒定的．为了简 化算法。我们用折线近似指数波形，(幻．取 样点就是折线的拐点，如图1所示．图中 ，(t)=^(1一exp(一日))，信号实际到达 时刻为t；o．设％、鸭、m。m．．．．分别是 第1、第2、第3、第4……折线段的斜率，则 ”k；(“一孔一1)／丁 (2) 式中n=1，2，3，4……．由指数函效的特 图1波形的折线近似 性可证明I“／％+1=“p(盯)=^，^是常 数．可见巩=M／}=概．由此可得第一折线段的方程 y=“1(t一瓦) (3) 式中，L为第一折线段在时间轴上的截距，它是恒斜率比内插定时计算所得的信号到达时 刻，也是和信号实际到达时刻的差距．而}一。一L． 根据斜率比恒定的原理，可以得到下式： 旧涮T，季=萼一孕=甜 ㈨ 可见，兀是口的函数．根据取样时钟的周期特性，口=o和口=丁时，L都应该等于零．图2分 别表示了淞和∥丁、死厅和∥丁的关系．它是指数波恒斜率比定时在不同叮’下的一组误差 曲线．由图可知，最大误差发生在∥r0．5．