微机调控的全场测试技术及工程应用.pdfVIP

998母=笫12巷第3蛸 测试技术学报 voJ12 No3 1998 微机调控的全场测试技术及其工程应用 罗至善 强桂琴 付玉红 (天津大学，天津300072} 124010) (辽河油田钻采工艺研究院，盘锦 摘要本丈介绍了可由擞机进竹精细调控扣管理的垒场渭憾是植袁一一擞机调控云纹干 涉法和擞札调控电子赦盘干涉涪．它们部解睫了可在工程现场应用的搏题，并实现了钍嚣 化。该技术已成功地在油田钻采工艺试验等瓴域应用。 关键词擞机调控云垃干涉滨 教机调控屯子散斑干涉浩 垒场剃试 0引言 ■r。 长期以柬，工程t成泛应甩的应力平l】强度测试手段主要是电测法，困为传统的光测 技术要求在暗室和防震台进行。但在应力分布比较复杂、危险点位置难于确定的许多情 况下，人们叉迫切希望能采用全场测试技术——主菩是光测力学方法。电子散斑和电子 剪切散斑技术眦，首先在这方面取得突破，但其趸敏度比垃低，盎要应用于无损检测等 领域。作者提出的正常光照下亚动态云纹干涉法[”3：相智能受f涉云纹仪“5j的研制， 为高灵敏和超高灵敏度全场光测技术进入工程领域开辟丁道路。本文将介绍这方面的 进展和应稻。 1 微机调控全场测试系统的基本要求及设置 全场测试的现代光测技术簧在工程测试中获得应用，必须解决以下几十问题：(1) 不簧求在暗室进行；(2)允许测试环境存在常觅的机械扳动}(3)设备小型佗，便于携带} (4)操作方便，可实时获得测试结果。 传统观念的云纹干涉法，都认为必须在暗室进行，因此没考虑环境光照等对云纹条 纹对比度的影响。作者经过严格论证和推导，苜玖提出丁包括影响对比度的偏置量的干 涉云纹光场强度表达式Ⅱ]。对非两次曝光即用电子采集的凄时法时，试件变形前詹双光 束的衍射波的位相相同．并“q1、吡代表试件变形后双衍射波的相位，且略去变形前后 振幅变化，可改写r“叼： 2——型遮技查堂掇 一——l塑坠生簋三魈 I=D(a，8，t．Io)+c(a，口，t，11)cos2(堕i些) (1) 式中t为曝光时间，I。、I，分别为环境光和相干光束光强，a为入射光振幅，B为感光体特 性系数。上式第一次描述r在有环境光照条件下，光靶采集或纪录胶片接收的光强，不 但寿反映由变形引起的相位变化信息的第二项，而且还胄厦映环境光强等因素影响的 第一项，两者的比值将决定条纹对比度；即只有当D—o条件F，才能获得良好的条纹 ％一啦；(2n+i)#，COS2(翌百兰)一0，将获得熙条纹。 为了消除环境光照的影响，电子散斑和电子剪切散斑技术采取试件受载前詹散斑 。 场相减办法；出於云纹干涉法难於完全消除初始云纹，不能使用上述方法。作背采用设 嚣黑色内壳激圪通道办法．既履制了环境光照的进入，叉麈进入的少嚣散射光，被黑色 内壁暇牧，获得与暗室试验相同的对比艘。还成功地实现了白搬环境下的测试。 为丁便于工程人员掌握萍适应工程现场实时获得测试结果的要求．作者还完成了 微机调节测试橱额卡【I对搪l试结果进行快速处理的配套软件K。 2微机调控云纹干涉法及其应用 i÷致于涉法确试中关键_f}f复杂的操作是光路滴整，鄹为实现预定的虚光栅频率和 衍射光柬的波前于醪成象， ‘≯7≥。，◇∥7 。爿主一． 甲一…_ ，。|‘‘竺一、+?尹!L～， 、。7