化学机械抛光中抛光垫的研究.pdfVIP

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  • 2015-08-07 发布于江西
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金属学与金属工艺

维普资讯 2OO4年 1O月 金刚石与磨料磨具工程 October.20o4 总第 143期 第5期 DiamondAbrasivesEngineering Seria1.143 No.5 文章编号:1006—852X(2004)05—0040—04 化学机械抛光中抛光垫的研究 ST 【JDIY oN THEPERFORMANCESOFPOLISHD G PAD IN CHEMICAL— MECHANICAL PoLISHD G 魏 昕 熊 伟 黄蕊慰 袁 慧 (广东工业大学机电工程学院,广州 510090) WeiXin XiongWei HuangRuiweiYuanHui (FacultyofElectromechanicalEngineering,Guangdong UniversityofTechnology,Guangzhou510090,China) 摘要:抛光垫是化学机械抛光(CMP)系统的重要组成部分。它具有贮存抛光液,并把它均匀运送到工件的整个加工 区域等作用。抛光垫的性能主要由抛光垫的材料种类、材料性能、表面结构与状态以及修整参数等决定。本文介绍CMP 过程常用的抛光垫材料种类、材料性能、表面结构,总结了抛光垫的性能对CMP过程影响规律,认为:抛光垫的剪切模量 或增大抛光垫的可压缩性,CMP过程材料去除率增大;采用表面合理开槽的抛光垫,可提高材料去除率,降低晶片表面的 不均匀性;抛光垫粗糙的表面有利于提高材料去除率。对抛光垫进行适当的修整可以增加抛光垫表面粗糙度、使材料去 除率趋于一致。与离线修整相比较,在线修整时修整效果比较好。 关键词:化学机械抛光;抛光垫;聚氨酯;修整 中图分类文:TG580.613 文献标识码:A Al~met:Polishingpad1S‘averyimportantcomponentofthechemical—mechanicalpolishing (CMP)system.Itdeliversslurrytothe waferworkpiceeandprovidespartofthemechanicalactioninhteCMPprocess.Theperformancesofapolishingpadaledeterminedby htetypenadproperties ofpadmaterials,thesurfacestructurenadstateaswellas hteconditioning param~ers. 111ispaperintroduceshte typenadpropertiesofpadmaterial,htesurfacestructurecurrentlyusednadsummarizeshteeffcetsofhtepolishingpadonhteCMP process.Thesummarizationshowsthatthema~rialreitloval rateincreaseswiht lowershearmodulusnadhighercompressibilityofthe polishing pad.Using htepolishing padwith~TOOVeSorroughersurfacesCna increasehtematerial removal nadplanariaztionrate . Pad conditioning ,especiallyon—proc

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