宽化效应及卷积关系.ppt

* 衍射谱线宽化效应及卷积关系 姜传海 上海交通大学材料科学与工程学院 宽化效应及卷积关系 1、影响谱线宽度的主要因素 2、几何宽化效应 3、物理宽化效应 4、谱线卷积关系 1、影响谱线宽度的主要因素 实测线形或综合线形，是由衍射仪直接测得的衍射线形，影响因素主要包括： (1) 仪器光源及衍射几何光路等实验条件所 导致的几何宽化效应； 光源 狭缝 试样 (2) 实际材料内部组织结构所导致的物理宽 化效应。凡是破坏晶体完整性的因素， 均导致衍射谱线宽化。 (3) 衍射线形中 Kα 双线及有关强度因子等所 导致的宽化效应。 1 K K α α 2 真实线形或物理线形，是反映材料内部真实情况的衍射线形，仅与材料组织结构有关。 这种线形虽无法利用实验手段来直接测量，但可以通过各种校正及数学计算，从实测线形中将其分离出来。 这就是衍射线形分析的目的。 2、几何宽化效应 几何宽化效应也称仪器宽化效应，主要与光源、光栏及狭缝等仪器实验条件有关。 例如X射线源具有一定几何尺寸、入射线发散、平板样品聚焦不良、接收狭缝较宽及衍射仪调正不良等，均造成谱线宽化。 即使是其它实验条件都相同，仅接收狭缝发生变化，同一试样的衍射谱线则存在很大区别。 如果采用不同仪器测试，对于同一试样的相同衍射面，且狭缝参数完全相同，测得的衍射谱线也有所不同。 图中给出这些因素的六种近似函数形状，称为衍射仪的权重函数。 如果只考虑 g1～g5 五个因素，许多情况下的合成函数与实测标样线形并不一致。为此引入不重合函数 g6，使最终线形与实际相符。 3、物理宽化效应 衍射谱线的物理宽化效应，主要与亚晶块尺寸(相干散射区尺寸)和显微畸变有关。 亚晶块越细或显微畸变越大，则X射线衍射谱线越宽。 此外，位错组态、弹性储能密度及层错等，也具有一定的物理宽化效应。 (1) 细晶宽化 对于多晶试样而言，当晶块尺寸较大时，与每个晶块中的某一晶面{hkl}相应的倒易点近似为一几何点。 由无数晶块中同族晶面{hkl}相应的点组成了一个无厚度的倒易球面。 材料中亚晶块尺寸较小时，相应于某晶面组{hkl}的倒易点扩展为倒易体，则由无数亚晶块相应的倒易体组成了具有一定厚度的倒易球，即衍射畴与反射球相交的范围也就越大。 此时在偏离布拉格角的方向上也存在衍射现象，造成衍射线的宽化。 Scherrer公式，可表示为 式中积分宽度β的单位为弧度，D为亚晶块尺寸，λ为射线波长。 该晶粒尺寸测量值，仅代表晶粒沿试样法线方向的尺寸。 需要说明，一个晶粒中包含多个亚晶粒，晶粒尺寸测量值，实际是晶粒中的亚晶粒尺寸。 (2) 显微畸变宽化 显微畸变又称微观应变，其作用与平衡范围很小。在X射线辐照区域内无数个亚晶块参与衍射，有的亚晶块受拉，有的亚晶块受压。 θ 各亚晶块同族晶面具有一系列不同的晶面间距，衍射线将合成一定范围内的宽化谱线。 晶面畸变的相对变化量服从统计规律且没有方向性，即显微畸变造成的宽化效应，峰值位置并不改变。 θ 通过理论分析，可以推导出显微畸变为 式中积分宽度β的单位为弧度。 该显微畸变，仅代表晶粒沿试样法线方向的显微畸变。 (3) 其它宽化效应 除了细晶与显微畸变因素外，晶体中的各类缺陷也可导致谱线宽化效应，包括空位、间隙原子、位错、层错等。 4、谱线卷积关系 实测衍射谱线中同时存在几何宽化与物理宽化效应，而真实衍射谱线中又同时存在细晶宽化与显微畸变宽化效应等。 这些线形宽化效应之间，并非是简单乘积或求和的关系，而必须是遵循一定的卷积关系。 (1) 几何宽化与物理宽化的卷积关系 引入三个重要的线形函数，即实测线形函数h(x)、几何线形函数g(x)以及物理线形函数f(x)。 三个函数都规定x=0时为最大值1，这样将给分析和计算带来方便。 实测线形函数，反映的是试样实际X射线衍射谱线，包含了全部衍射线形宽化效应。 几何线形函数，则仅是仪器参数所造成的几何宽化线形。 物理线形函数仅代表与材料组织结构有关的真实线形。 物理宽化因素影响下进一步增宽，同时峰值降低，即物理宽化因素不改变整个衍射曲线的积分强度(积分面积)。