利用CCD测量单缝衍射光强分布.pdfVIP

维普资讯 第24卷 第 3期 太 原 重 型 机 械 学 院 学 报 Vo1．24 No．3 ， 2003年9月 JOURNALOFTAIYUAN HEAVY MACHINERY IN 1【rIIfIE Sep．2003 文章编号：1000—159X(2003)03—0205—04 利用 CCD测量单缝衍射光强分布 孟继轲，杨型健 ，时振涛 (太原重型机械学院，太原030024) 摘 要：利用一种新型半导体集成光电器件，即CCD(ChargeCoupleDevices)电荷耦 合器件，并通过CCD专用接 口卡来直接测量单缝衍射光强分布，实现测试数据 自动采集 和实验结果 自动输 出。叙述 了线阵CCD测量光强度的原理，分析了系统的软、硬件设计 及测试结果。 关键词：单缝衍射；电荷耦合器件CCD；模数转换(A／D)；光强分布 中图分类号：TN386．5 文献标识码：A 分布曲线的全貌，只是一种近似验证性的实验。由 于CCD具有很好的光电转换特性，通常它的光电转 0 引言 换因子可高达99．7％，因此利用它可弥补传统实验 中的缺陷，可直接显示光强分布曲线并减小测量误 随着光电子技术的发展，涌现出很多特种光电 差。同时输出信号的A／D数据采集是通过一接 口 器件，CCD即为新问世的一种新型光电器件，由于 卡直接将采集到的数据送到计算机进行处理，显示 它具有尺寸小、重量轻、功耗小、噪声低、动态范围 光强分布 曲线和有关数据。这种先进的光学实验 大、线性好、光谱响应范围宽、几何结构稳定、工作 方法为传统的实验增加了新的科技 内容。 可靠等优点，因而在物体外型测量、表面检测、图像 传感等方面得到了广泛的应用。近些年来，CCD器 1 原理简介 件正越来越多地被应用于光学测量。为了加深对 光的波动性的理解，得到由光的反射或衍射产生的 1．1 单缝衍射原理 直观的光强分布 曲线，并将其应用于微小量测量， 衍射是光具有波动性的一种表现，可分为夫琅 可获得很高的测量精度。本文利用计算机技术进 禾费衍射和菲涅尔衍射两类。夫琅禾费衍射是远 行实时数据采集，直接测量光强分布，以图形显示 场衍射，菲涅尔衍射是近场衍射。本实验采用单缝 作为结果输 出。运用 CCD作为光 电转换器件 ，改变 夫琅禾费衍射。 了传统实验中利用硅光电池测量光强分布所带来 衍射光强分布测试装置如图 1所示，用 He—Ne 的不足。利用硅光电池在实际测量时会受到杂散 激光器做光源，由于激光光束发散角很小，方向性 光的干扰，容易产生测量误差，而且不能显示光强 收稿 日期-2002—12—26 作者篱介：孟继轲(1974一)