KDP晶体应力数字式检测方法.pdfVIP

第38卷第 12期 光电工程 、b1-38．No．12 2011年 12月 Opto-ElectronicEngineering Dec．20l1 文章编号：1003—501X(2011)12—0052—05 KDP晶体应力数字式检测方法 魏小红，高 波，李 强，徐凯源，刘 昂，柴立群 (成都精密光学工程研究中心，成都 610041) 摘要：使用高精度数字式应力仪测量 KDP晶体的应力，给出整体应力分布。通过沿光轴方向测量，消除晶体 O 光和 e光的双折射效应的影响，准确得到晶体材料 自身的应力双折射分布。实验结果表明，测量重复性优于 O．1 nnfcm。对KDP晶体材料应力的高精度数字式检测对于加工和使用具有重要的指导意义。 关键词：数字式应力仪；KDP晶体；应力双折射；光学检测 中图分类号：0437；TN247 文献标志码：A doi：10．3969／j．issn．1003．501X．2011．12．010 DigitalM easurementoftheStressofKDPCrystal WEIXiao-hong，GAOBo，LIQiang，XUKai—yuan，LIUAng，CHAILi-qun (ChengduFineOpticsandEngineeringResearchCenter，Chengdu610041，China) Abstract：Using thehigh precision digitalstressmeasurementinstrument，wemeasured thestressofKDPcrysta1． ThroughmeasuringtheopticalaxisofKDP,thebirefringenceofordinarylightandextraordinarylightisdiminished，and theinnerstressoftheKDPisgained，Therepeatability ofmeasurementisbetterthan0．1nm／cm ．Thehighprecision digitalstressmeasurementofKDPisofgreatimportancetomachiningandutilization． Key’’： ：digitalstressmeas~ementinstrument；KDPcrystal；stressbirefringence；opticalmeas~ement 0 引 言 光学玻璃通常是各向同性的，即折射率在各个方向都相同。但是，当机械应力引起材料结构变化，导 致沿着光轴方向微粒密度不同。由于光在材料中的传输速度与材料密度有关，材料这种微结构的改变会导 致光在介质中不同方向的传播速度不同，引起不同方向的折射率不同。介质也因此有了双折射特性，我们 称这种效应为应力双折射。除了各向同性材料，自然界中同时也存在大量光学各向异性材料，即双折射材 料，如方解石、KDP晶体等。 惯性约束聚变装置中需要大量的光学元件。用于这些元件加工的光学材料，如果存在由于退火温度不 均匀而导致的应力分布不均匀，由于元件存在残余应力，引起相位测量误差，进而造成面形测量误差…； 加工过程中材料会 由于应力作用发生变形，降低加工精度与效率，加工好的光学元件表面会随时间而慢慢 变形 。；应力分布不均匀还会引起光学均匀性质量降低 J、使折射率分布不一致 J；应力会降低元件的损 伤阈值。。；晶体内的残余应力会产生应力退偏以及应力双折射等，从而改变激光的偏振态和晶体折射率的 均匀性，降低转换效率和使光束质量变差 J。总之，应力会影响光束质量及像质，进而影响激光驱动器的 性能。 因此，在精密光学科研与生产中对光学元件的应力指标提出更严格的要求，进而对应力检测提出更高 要求。传统的检测应力的方法有 1／4波片法、偏光干涉法 等。美国利弗莫尔实验室(LLNL)根据KDP晶体 材料特性和偏光原理 自研了检测KDP晶体应力的设备，国内由于应力检测设备精度有限，导致无法精确 测量晶体应力，更无法区分晶体双折射大小与材料