LCD+Mura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制.pdfVIP

第41卷第2期 光电工程 Vo1．41．No．2 2014年 2月 Opto—ElectronicEngineering Feb，2014 文章编号：1003—501X(2014)02—0033—07 LCDMura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制 李 坤 ，李 辉 ，刘云杰2 梁 平2，卢小鹏 (1．电子科技大学 航空航天学院，成都 611731； 2．四川出入境检验检疫局机电处 ，成都 610041) 摘要 ：针对机器视觉检测TFT-LCDMura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题， 提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下，采用双三次B样条曲面拟合算法拟 合出背景，并添加光顺项调整拟合精度，用原始图像减去拟合背景，从而消除亮度不均匀背景对缺陷分割造成的 影响。为提高算法速度，对原始图像进行分块拟合，并将双三次B样条函数分解为一元函数求解，减小了计算量， 同时避免 了对原函数求解时容易出现的病态解问题。实验结果表明，该算法准确、高效。 关键词：Mura缺陷；亮度不均匀；B样条；曲面拟合；背景抑制 中图分类号：TP391．4 文献标志码：A doi：10．3969／j．issn．1003—501X．2014．02．006 BackgroundSuppressionofLCD M uraDefect UsingB—splineSurfaceFitting LIKun，LIHui，LIUYunjie，LIANGPing，LUXiaopeng (1．SchoolofAeronauticsandAstronautics，UniversityofElectronicScienceand TechnologyofChina,Chengdu611731，China； 2．SichuanEntry-ExitInspectionandQuarantineBureau，Chengdu610041，China) Abstract：AbackgroundsuppressionmethodbasedonB—splinesurfacefittingwasproposedtosolvetheproblem ofthe accuracyofMuradetection，whichisoftencausedbytheunevenbrightnessandcomplexbackrgoun dwhenemploying machinevisiononMuradetectionofTFT-LCD．Undertheconstraintofleastsquarecriterion，bicubicB—splines~Nce fittingalgorithm wasdeployedtofittheunevenbrightnessbackgroundandafairingitemwasaddedtoadjustfitting precision．Inordertoincreasetheperformanceoftheproposedalgorithm anddecreasethecalculationtime，dividedfitting methodwasusedonoriginalimageandthebicubieB--splinefunctionwasanalyzedintoone-·dimensionalufnctionsfor efficiently solving．Furthermore，pathologicalproblemscausedby solvingofthetwo—dimen