采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究.pdfVIP

维普资讯 第 3O卷第 6期 光 电工程 Vo1．30,No．6 2003年 12月 ． Electronic En Dee，2003 文章编号：1003．501X (2003)06—0036-03 采用面阵 CCD对大尺寸轴径进行 高精度测量的研究 王庆有，蔡 锐，-6愈昭，齐 龙 (1．天津大学精密仪器与光电子工程学院，天津 300072； 2．信息技术科学教育部重点实验室，天津 300072) 摘要：采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量，克)Jlt7单片面阵CCD测量范 围小的缺点，解决了用线阵 CCD 拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题 。面阵 CCD进行 图像拼接的测量方法，适用于测量 128—135mm的轴径，其测量精度高达 ±0．01ram。 关键词：非接触测量 ：面阵 CCD；图像拼接 中图分类号：TN386．5 文献标识码：A A studyonhigh-precisionm easurementoflarge·size axisdiameterwitharrayCCD WANGQing-you，CAIRui,MAYu-zhao，QILong ． (1．SchooloyPrecisionInstrumentsandOpotelectronicEngineering， TianjinUniversity，Tianfin300072，China； 2．KeyLaboratoryoyOpotelectronicInformationTechnical ScienceunderMinistryofEducation，Tianfin30oO72，China) Abstract：High-prce isionnoncontactmeasu~mentforlarge-scaleaxisdiameteriscarriedOUtthrough mosaictechnologyofarrayCCD images．Thismethodovercomeshteshortcomingsof smallrangeof singlearray CCD measurementand solveshte problemscaused by bandwidht too narrow to be expandedduringlineararrayCCD mosaicmeasu~ment．Themeasuringmehtodofrsplicingimagesof array CCDsissuitableformeasuring xaisdiameter 128—135mm．wiht measuring accuracyaShigh as+／-0．01mm． Keywords：Non-contactmeasurement；ArrayCCD：Splicingimages 引 言 采用单片面阵 CCD 摄像机作为光电图像传感器对大尺寸轴径进行测量时，其测量范围与测量精度的 矛盾使得有限像敏单元数的面阵CCD摄像机无能为力 。虽然采用一些像敏单元数较大的线阵CCD进行拼 接测量有可能获得高精度大测量范围的测量方法，但是在一些特殊情况下，由于存在着特殊现象不能完成 大尺寸轴径高精度测量的要求 。而必须采用两个面阵 CCD 图像传感器进行图像拼接测量 。本文介绍了用 一 种典型的采用两个面阵CCD的图像拼接方法对 130mm的大尺寸轴径进行高精度测量的基