基于格莱姆-施密特正交化两步相移轮廓术.pdfVIP

第40卷第6期 光 电工程 V_01．40．NO．6 2013年 6月 Opto—ElectronicEngineering June。2013 文章编号：1003—501X(2013)06—0037—06 基于格莱姆一施密特正交化两步相移轮廓术 周灿林 ，司书春 ，高成勇 ，徐建强 ，雷振坤2 (1．山东大学 物理学院，济南 250100； 2．大连理工大学 工程力学系，辽宁 大连 116024) 摘要：将格莱姆一施密特正交化法引入投影栅形貌测量，提出了一种新的两步相移轮廓术。首先将2幅随机相移正 弦条纹通过DLP投影仪投射到待测物体上，由CCD相机采集受物体形貌调制的变形光栅条纹图，再选择合适大 小窗口经像素逐点均值法消除变形栅线图中的背景成分，然后对消背景栅线图进行格莱姆．施密特正交化，得到2 幅消背景相移栅线图对应的正交基，由正交基解调出相位数据。最后对面膜样品进行了实际测量，并与其它方法 进行了比较分析，实验结果证明了该方法的有效性。 关键词：相移法；相位测量轮廓术；变形光栅图；相位去包裹；格莱姆一施密特正交化法 中图分类号：0348；043 文献标志码：A doi：10．3969~．issn．1003．501X．2013．06．007 Two-·stepPhase-·shiftingProfilometryBasedon Gram．Schmidt0rthonormalization ZHoUCanlin ，SIShuchun ，GAo Chengyong，XU Jianqiang ，LEIZhenkun (1．SchoolofPhysics，ShandongUniversity，Jinan250100，China； 2．DepartmentofEngineeringMechanics，DalianUniversiytofTechnology，Dalian116024，LiaoningProvince，China) Abstract：Anoveltwo-stepphase—shiftingprofilometryisproposedaftertheGram-Schmidt(GS)orthonormalizationis introducedintothree-dimensional(3D)shapemeasurement．Firstly,wtophase-shiftedrandomlysinusoidalfringepatterns areprojec‘tedontothetestedobjectbyDigital—light-processing(DLP)projector．Thefringepatternsmodulatedwiththe object’SsurfacearecapturedbyaCCDcamera．Secondly,htebackgroundcomponentiseliminatedfromdeformed gratingsbyaveragingmethodpixelbypixelafterhteappropriatewindow sizeisadopted．Thirdly,allorthonomr alized fringebasisisdetemr inedfrom thewt ofringepatternsusingtheGSmethod．Then，htephaseisdemodulatedrfom hte fringebasis．Finally,wehavetestedhteproposedmehtodwim realmeasurementofhtehumanmask．Our algorithm is comparedwithhteothermehtods．Theexp