全反射法折射率测量中的多光源光学系统设计.pdfVIP

维普资讯 第34卷第3期 光电工程 Vo1．34，No．3 2007年 3月 Opto-ElectronicEngineering March，2007 文章编号：1003—501X(2007)03—0136—04 全反射法折射率测量中的多光源光学系统设计 沈 种，徐向东 (浙江大学 现代光学仪器国家重点实验室，浙江 杭州 3l0027) 摘要：介绍了一种用于全反射法折射率测量的光学系统。当采用一个光源时，折射率测量的精度和量程受到接收 面积的限制，采用多光源的光学系统，通过把量程分段，切换不同的光源来选择合适的量程，能在不改变接收端 光电传感器的条件下，提高测量精度，扩大量程。本文根据折反射定律，通过分析光路图，给出了此光学系统的 结构参数。理论计算和实验结果表明，当采用三个光源时，测量精度或量程比单光源系统提高到三倍左右。 关键词：光学系统设计 ；多光源光学系统：全反射；折射率精度 中图分类号：TH702 文献标识码：A Designofmulti-sourceopticalsystem inmeasuringtherefractiveindexof liquidsbasedontotalreflection SHEN Chong，XU Xiang-dong (StateKeyLaboratoryofModernOpticalInstruments,ZhejiangUniversity，Hangzhou310027，China) Abstract： A new methodwasdevelopedformeasuringtherefractiveindexbasedontotalreflection．Comparedwiththe single—sourcesystem whoseresultWas restrictedbythereceivingarea，themulti-sourcescouldimprovetherangeandthe sensitivityofthemeasurementwithoutchangingthereceivingimagesensor．Rangewasdividedintoseveralpansthat weredecidedbyswitching thesources Theparametersoftheopticalstructureweregivenby analyzingtheoptical pathwaydiagram basedonformulasofrefractionandreflection．Thecalculationandexperimentshowedthattherange andthesensitivityofthree-sourcesystemwereaboutthreetimesas thesingle-sourceone． Keywords：Opticalsystem design；Multi—sourcesopticalsystem；Totalreflection；Refractivityprecision 引 言 全反射法是一种结构简单、处理方便的折射率测量 方法，是 目前液体折射率测量中采用最多的方法之一。 在整个全反射法测量系统中，光学系统的设计相当重要， 它直接影响到系统灵敏度、精度和量程。通常采用如图 1所示的单光源光学系统。在这一系统中，量程和灵敏 度均受到所使用的光电图像传感器(如 CCD)的像素数和 像素尺寸的制约。为了提高系统测量灵敏度、精度和扩 大测量量程，本文提出一种新的多光源光学系统，并针 对多光源系统，对系统的参数设计、精度及灵敏度进行 阐述和分析。