一种有效的电路容错结构及其成品率分析.pdfVIP

电子学报000224 电子学报 ACTA ELECTRONICA SINCA 2000 Vol.28 No.2 P.79-82 一种有效的电路容错结构及其成品率分析 赵天绪　郝跃　朱建纲 摘　要：本文提出了一种有效的电路容错结构，给出了一种重组算法.按照这种重组算法，对该结构 的成品率进行了分析，并给出了其成品率的表达式.最后，通过电路设计和分析说明了该容错结构的 有效性. 关键词：容错结构；重组算法；成品率分析 分类号：TN405　文献标识码：A 文章编号：　0372-2112 (2000) 02-0079-04 An Effective Tolerant-Fault Circuit Structure and Its Yield Analysis ZHAO Tian-xu,HAO Yue,ZHU Jian-gang 1　引言 集成(WSI).然而，电路复杂度的增加、互连线的要求以及大量失效模式的存在使得VLSI或WSI对制造 过程中的缺陷非常敏感，这些缺陷造成了制造成品率的下降.进一步在VLSI或WSI的系统中，由于存 在大量的互连线单元而增大了故障出现的概率，从而使整个系统的可靠性受到了限制.为了获得可行 的成品率和运行可靠性，迫使人们在设计电路时给系统中加入冗余单元，把系统设计成为具有一定 容错能力的结构. 　　芯片级的容错结构已成功地用来提高高密度的半导体器件的成品率和可靠性，如存储器、 ［1～4］ CPU、门阵列以及PLA等 .由于这些器件规则的结构适合于对冗余单元的有效利用，许多研究 者已经对其容错结构进行了研究.在实际的VLSI阵列中包含了已经出现故障的单元，因此随着大面积 VLSI制造工艺的发展，可以采用容错技术实现阵列的重组使得包含了故障单元的实际阵列成为无故 障、期望的互连拓扑结构的阵列.容错设计的目的是尽可能地应用阵列中好的处理单元来替代故障单 元使系统具有正常的功能，同时保证不会因为容错结构中的处理单元之间的互连线太长而降低了系 统的性能. 　　要使系统具有容错能力就必须给系统提供一定量的冗余单元.但是在系统中如何放置这些冗余单 元才能使系统的成品率得到较大的改善.本文根据m×n阵列处理器规则的结构特点提出了冗余单元的 一种有效的放置方案，并给出了相应的重组策略；同时对该结构的成品率做了分析. 2　容错结构及其重组算法 2.1　容错结构 　　本文考虑一个二维的m×n处理器逻辑阵列，该阵列结构是为某一ASIC而设计的.一个包含故障 file:///E|/qk/dianzixb/dian2000/0002/000224.htm（第 1／8 页）2010-3-22 16:57:24 电子学报000224 单元的阵列称为物理阵列；若一个有容错能力的物理阵列能利用自身冗余单元和开关网络对自身所 包含故障单元实现容错，该阵列称为可重组阵列. 　　下面主要讨论可重组阵列.给定一个二维的m×n逻辑阵列.它的冗余结构这样构成：把二维阵列 的每一列分成若干块，在每一块的顶部加入一个备用单元，给每一列的最后一块的底部再加入一个 备用单元.设经划分后每块含有b个基本单元(为了讨论简单，不妨设m是b的倍数)，于是阵列的每一 (m/b+1)/m×n=(m/b+1)/m,如图1所示是一个6×5阵列.其中“□”是基本单元，“■”是备用单元. 2.2　重组算法 　　在进行阵列重组时，通常每一列中的备用单元可用于替换单元所在块中的故障单元以及与该块 相邻的四块中故障单元.这样做虽然提高了备用单元的利用率，但是增加了支撑电路的面积，对改善 运行系统的可靠性并不利.本文规定每一列中的备用单元只用于替换该单元所在块以及该块所相邻的 上、下两块中故障单元.根据这个规定，提出下面的重组算法： 阵列重组开始于第一列，即j=1；(2)在第j列重组开始于第一块，即i=1；(3)在第i块，若该块中无故障 单元，转(4)；若该块中有一个故障单元，首先用该块中的备用单元重组，成功转(4)，否则向第i+1 块中“借”备用单元进行重组，成功转(4)，否则转(8)；若该块中有两个故障单元，利用该块和第i 整个阵列重组成功，否则转