129I加速器质谱分析研究.pdfVIP

第25卷第8期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．25，No．8 2013年8月 HIGHPOWERLASERANDPARTICLEBEAMS Aug．，2013 文章编号： 1001—4322(2013)08—2085—06 129 I加速器质谱分析研究+ 刘 起1’2“， 周卫健1’3”， 侯小琳1’3， 付云种1’3， 3 赵稳年3一， 卢雪峰1’3， 陈 宁1’3， 张路远h (1．中国科学院地球环境研究所，黄土与第四纪地质国家重点实验室，西安710075；2．中国科学院大学，北京100049； 3．西安加速器质谱中心，陕西省加速器质谱技术及应用重点实验室，西安710061；4．西安交通大学，西安710049) 摘要：通过对”9I加速器质谱(AMS)分析中影响敏度和准确度各种参数的研究，如靶电极制备、压样、 靶样中辅助介质(Matrix)的选择及使用比例等，优化了用于3MV加速器质谱仪的SO一110型离子源的条件参 数，确定”-LIAMS测量的最佳靶电极材料为Cu，最佳的辅助介质为Nb粉末，Nb与AgI样品的最佳体积比为 3：l。在此条件下可以获得稳定且持续的I一束流进行测量”91／”7I原子比值，实验测得西安加速器质谱仪的 ”9I／”7I本底值为1．52×10…4。 ”9I； 铯溅射； 辅助介质 关键词： 加速器质谱仪； SO一110离子源； 中图分类号：TI。817 文献标志码： A doi：10．3788／HPLP2085 加速器质谱仪(AMS)是目前测量1 在地球科学、环境科学、考古学、生命科学、海洋科学和宇宙化学等领域有广泛应用。AMS通常由离子源、低能 端注入系统、高压加速器、高能分析系统、探测系统、控制及数据获取系统等组成，其中离子源是AMS进行低 ．固体样品的Cs溅射 本底、高灵敏度测量的关键部件之一。目前，多数的AMS设备采用Cs溅射负离子源¨ 离子源具有束流强且稳定、测试效率较高、换样简便、记忆效应小、同量异位素分离较彻底等优点[6]，成为目前 广泛应用的加速器质谱仪离子源。 129I是碘元素的唯一天然长寿命放射性同位素，半衰期达1570万年，AMS是目前最为灵敏的”91分析方 法，检出限为105个原子(10叫7 马谱仪、液体闪烁测量和中子活化分析等3～8个数量级17。8]。 MV多核素加速 西安加速器质谱中心2007年开始运行，核心仪器为荷兰高压工程公司(HVEE)制造的3 3I，1 用科研工作的开展‘8’12。1 数进行对比研究。 l SO一110型离子源 cs一离子束轰击固体表面产生负离子，基于此原理Middle— ton等在1973年开发了Cs溅射负离子源[14。5|。通过加热使Cs 气化成Cs蒸气，引导到1100。C左右的电离器上被电离成Cs+离 子，通过电场加速聚焦轰击到固体样品表面，样品中的物质在 Cs+溅射下转化成负离子并在电场作用下被引出(图1)。 7|，目前在 Cs+溅射离子源束流强，能散小，且易维护[161 AMS中应用比较广泛的Cs+溅射离子源为NEC公司的MC— SNICS，有20靶位、40靶位和134靶位三种型号口j，还有HVEE 公司的SO一110型Cs溅射负离子源，有50靶位和200靶位两种Fig．1Schematicof ionsource diagramCs’sput