电负荷历史对ZnO压敏电阻电容量测试结果的影响.pdfVIP

中国电子学会敏感技术分会电压敏学部第十七届学术年会论文专刊 电负荷历史对ZnO压敏电阻电容量 测试结果的影响 of load on ZnOvaristor Influenceelectrical test of history capacitance 卢振亚，邱培，周紫阳 华南理1=大学电子材料科学与工程系广州510640 擅耍：实验研究了ZnO压敏电阻经受电负荷后电容量变化特性。ZnO压敏陶瓷承受电负荷时材料内部界面态俘获电子导致受主表 面态密度增加，撤去负荷后界面陷阱态会逐步释放施加负荷时俘获的电子，使得界面态密度最终达到施加负荷前的平衡状态。 关键调：Zn0压敏电阻，电容量，电负荷历史 1引言 2实验过程 电容量作为压敏电阻元件的一项性能指标在1988年的 为了测试直流负荷对压敏元件的测量电容的影响，本 El本松下电子公司的产品样本中已经提出“}，不过当时这工作设计了一个测试系统，其原理图见图la。该测试系统 项指标只作参考，不作为产品考核指标。但是近几年该项 可用于测试单向负荷，也可以测试双向负荷，施加负荷时 指标已改为考核指标，在新的标准或产品目录中|2-31已列间可相应调节。图中继电器K。、K2、K，的通断可采用PLC 出相应规格产品的电容量七限值。既然作为产品考核指标， (可编程序控制器)进行控制，但为了节省成本，本试验工 就必须规定相应测试条件，各相应标准都规定了测试信号 作采用高精度时间继电器进行控制。图lb和图lc分别为 频率、信号电平。但是，在本人研究工作中发现，无论是 单向负荷和双向负荷试验时的继电器动作时序图，TI为正 氧化锌压敏材料还是氧化锡压敏材料。电负荷历史对其电 向施加电压时间段，T2为反向施加电压时间段，B为样品 容量特性影响很大，因此仅规定容量测试信号频率和电平 放电时间段。图中R．为阻值10Q的放电电阻。之所以设 还不能客观反映材料或元件的电容量特性。 计一个放电时段．是因为对于漏电流较小的样品相当于一 在对压敏元件进行小电流特性测试时必须施加直流电 只绝缘电阻较高的电容器，撤除施加的电负荷后需要一段 压或电流信号，试验中发现在进行这种测试前后测量元件 时间才能完成自放电，为了防止元件充电电荷影响电容测 的电容量所得数据相差甚远。此外，各研究人员和产品生 试仪的测量精度，在元件转接到电容测试仪之前进行一段 产单位使用的测试仪表不尽相同，测试时施加在样品上的 时间强制放电。 电负荷幅度和时间间隔不同，例如。我们进行实验研究的 TestMeter’(电容测试仪)采用 图l中“Capacitance 测试仪表(湖南省计算技术研究所MY-4C)使用恒流源给 4288A型仪表，设定测试信号频 安捷伦公司生产的Agilent 样品施加1．0mA、0．1mA直流电流。测试样品两端电压降， 率为IkHz，信号电平为0．1‰。 此外还采用恒压源测试一定电压下的漏电流，这种测试方 需要特别注意的是样品与继电器K。以及继电器K1与 法施加电负荷时间为1s到数S。压敏电阻元件生产单位通测试夹具(图中test