VLSI测试及可测性设计方法2.pptVIP

第二章 组合电路测试图形生成算法介绍 第 二 章 内 容 故障模型 通路敏化法 布尔差分法 D算法 伪穷举法 特征分析法 第一节 故 障 模 型 1.固定故障（Stuck-At-Fault） 固定值故障：某一节点（包括输入或输出）的 逻辑值固定在“1”或“0”。 Stuck-At-1：节点逻辑值固定在“1”。 Stuck-At-0：节点逻辑值固定在“0”。 2.固定开路，固定短路故障（Switch-Level-Fault） 固定开路：晶体管一直维持截止状态。 固定短路：晶体管一直维持导通状态。 3.桥接故障（Bridging Fault） 两根或多根信号线连接在一起引起的电路故障。 4. 时滞（延迟）故障（Delay Fault） 门延迟（Gate Delay）：延迟发生在逻辑门上。 路径延迟（Path Delay）：延迟发生在路径上。 检测方法…… 5.冗余故障（Redundancy Fault） 特点1：要么是不可 激活的，要么是无法检测的。 特点2：不影响电路逻辑功能的。 第 二 节 通 路 敏 化 法 异 或 运 算 3．逻辑函数的异或表达式 逻辑函数都可以用两级与或的表达式来描述，如果把逻辑函数表示成若干两两之间至少有一个变量互反的各乘积项之和，那么，利用公式:X1X2xor/X