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加速极限试验方法综述.pdf
电子产品ir靠怍与环境试验 、0132、o.6De(_2014
综述与展望
加速极限试验方法综述
王文岳
(工业和信息化部电子第五研究所华东分所,江苏 苏州 2150lJ)
摘 要:介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性.以及HALT和高加速应力筛选
地看待HA唧ASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。
关键词:高加速寿命试验;高加速应力筛选:可靠性试验
114.37
中图分类号:TB 文献标志码:A
doi:lO.3969/{.issn.1672—5468.2014.06.Oll
Overviewof
HAL删ASSTestMethods
WANG
Wen—yue
2150l
(CEPREI—EAST,Suzhoul,China)
A
Abstract: betweentraditional testand acceleratedLimittest
comp撕son reliability highly
is and of Accelerated
(HALT/HASS)
presented.Thespeci6ctechnologiesapplicationsHighly
Limit AcceleratedStress intmduced.The
Test(HALl’)and
Highly Screening(HASS)are
imple—
mentationschemeofHALrr/HASS andtheissuesthatshouldbeconsideredinthe
techniques ap—
aresummarized.HowtoconsidertheroleofHA¨,HASS inthe RD
plication techniquespmduct
and andtheir arediscussedintheend.
manufacturingappropriateapplication
Accelerated Acceleratedstress
words: Limi£Test(HALT);
Key Highly Hi曲ly Screening
test
(HASS);reliability
O 引言 HASS方案,通过HASS剔除生产制造缺陷.使产
品快速地达到高可靠性。HALT/HASS现已成为美
高加
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