AD转换芯片的测试环境构成及测试方法.pdfVIP

A/D 换芯片的测试环境构成及测试方法 章作者 ：陈莉莉 周 斌 章出处：电子技术应用 摘要：介绍了通过Labview 编程环境，运用系统集成的方法 ，集成具有GPIB 接口的测试 设备 ，实现数字电路测试系统向混合信号测试向扩展的方法。并阐述了A/D 转换芯片的几 种主要测试方法 ：柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原理及实现 方法。 关键词：集成电路测试 混合信号测试 系统集成 所谓的混合信号测试 ，是指对A/D、D/A、锁相环等兼有数字 模拟两种信号的混合电 路芯片的测试。混合信号测试的测试时间长、费用高、测试系统结构复杂 ，在实现上具有一 定难度。而数字电路测试系统有着出色的测试能力 ，如足够的向量深度、灵活的数据格式、 常规的交直流参数测试能力等。添加必要的程控模拟源以及模拟信号测试设备 ，运用系统集 成的方法，用高信噪比的数字电路测试系统以及带有GPIB 或VXI 接口的设备构造A/D、 D/A 待转换芯片的测试环境，完全可扩展到混合信号电路的测试领域 ，可以在一定程序上 解决混合信号测试的问题。 由NI 公司出品的Labview 语言 ，是一种图形化编程语言 ，也是最通用的工程测试语言。 Labview 本身附带的软件包提供了大量带有GPIB 接口的可程控测试设备的驱动程序 ，在测 试程序中添加这些现在的驱动程序模块 ，很容量实现对外部设备的操作，使软件编程变量非 常简单；Labview 库函数中的DSP 函数，可以方便地进行数据处理 ，作频谱分析。 选用 Labview 构成测试的软件环境，运用系统集成的方法实现数字电路测试系统向混合信 号测试的扩展，可以依据不同的测试品种 测试要求 ，对系统灵活地加以配置 ，不管是软件 编写还是硬件集成都非常方便、灵活、快捷。在构筑测试系统时 ，要充分考虑到以下三方面 问题 ：系统中各部分的同步协调工作、降低系统噪声、阻抗匹配。 1、A/D 换芯片的测试环境构成 1.1 硬件构成 测试系统的硬件框图如图1。该系统的工作原理是：在 SUB 工作站运行的测试程序通 过GPIB 接口程控任意波形发生器产生所需要的测试波形 ；由数字电路测试系统产生测试 A/D 转换芯片所必需的数字激励并获取数字响应信号。在测试过程中，每次启动A/D 转换 的同时提供任意波形发生器的时钟脉冲信号，保证测试的同时进行 ，同时读入A/D 转换器 的数字输出信号 ；测试完毕后从数字电路测试系统的内存中读出转换数据 ，并进行处理。 高分辨率A/D 的测试对测试系统本身的噪声性能有较高的要求。测试系统必须具有分 辨小信号的能力 ，如果系统噪声太大 ，滤波不干净 ，就会扭曲测试结果 ，甚至无法进行测试。 我们使用的数字测试系统为IMS 公司的ATS60E 测试系统 ，信噪比可达到90 ～124dB ，可 以测试16Bit 音频A/D ，完全可以满足测试的要求。而且系统 了图表化的编程界面外 ， 还提供Labview 以及C 语言的编程环境，很容易对测试过程进行控制。 任意波形发生器内部的存储空间存储数字化的波形，输出时通过 D/A 将数字信号转化 为模拟信号。一般来说 ，输出频率 分辨率两个指标不可兼得。可以根据测试的A/D 品种 选择高速、低分辨率或低速、高分辨率的设备。对普通的音频A/D 来说 ，Pragmatic 2711 （16 位 ，2MHz ）是较好的选择。任意波形发生器产生的A/D 常用测试波形一般有斜波（或 三角波） 正弦波两种：斜波主要用来测量静态参数，正弦波用来测动态参数。在任意波形 发生器后接高阶有源滤波器 ，以平滑由于波形发生器内部 D/A 存在量化误差所产生的测试 波形上的锯齿 ，减少测试信号的失真。对高频电路测试，一般测试系统阻抗都为 50Ω ，要 充分考虑到阻抗匹配的问题 ，以保证信号的最大通过和最小反射。 1.2 软件构成 测试软件分两部分：IMS-ATS60E 数字电路测试系统的IMS 测试程序及 Labview 测试 程序 （见图2 ）。 数字电路测试系统的IMS 测试程序完成如下功能 ：重复进行若干次测试，每次测试都 产生A/D 的转换控制信号，同时提供一个数字信号作为系统同步时钟 ，并捕获转换结果 ； 对电路的数字部分进行常规的交、直流参数测试。 Labview 测试程序完成的功能有：初始化波形发生器 ，包括写入测试波形 ，设置时钟 同步方式、波形幅度、偏压等，产生的波形幅度为待测A/D 满幅输