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模拟电路内建自测试故障特征提取与优化.pdf
第34卷第l期 仪 器 仪 表学 报 V01．34No．1
Chinese ofScienti6cInstmment
2013年1月 J叫mal Jan．2013
模拟电路内建自测试故障特征提取与优化木
朱敏‘，杨春玲1，孔德晶2
(1．哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院哈尔滨150001；
2．浙江西子联合工程有限公司 杭州3lool9)
摘要：针对电子装备中模拟电路内建自测试(built．in
增加了硬件电路面积和测试测量误差，并增加了测试的复杂性、降低了系统的可靠性的缺点，提出一种模拟电路内建自测试故
障特征提取与优化方法。该方法是利用电子装备中自带的微控制器产生的方波作为模拟电路的自动测试矢量，并针对此自动
测试矢量产生的输出响应进行分析，提取多维故障特征并优化的算法。该方法能够使得自动测试矢量生成复杂性降低，优化故
障特征并通过故障隔离度计算公式使得故障的可隔离程度提高，精简故障特征样本，从而减少测试的复杂性和代价。最后，通
过实验验证了所提出方法的正确性和有效性。
关键词：内建自测试；模拟电路；故障检测；特征提取与优化
TP806+．1TMl3I
中图分类号：TJ430．6 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：470．40
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Zhu
Mjnl，YangChunlin91，KongDejin92
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