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第 25 卷第 8 期 大 学 物 理 Vol. 25 No. 8
2006 年 8 月 COLL EGE PHYSICS Aug. 2006
横向放大率法测定光具组的基点
刘竹琴
(延安大学 物理与电子信息学院 ,陕西 延安 716000)
( )
摘要 :介绍了用横向放大率法确定两薄透镜组成的光具组基点的原理和方法 ,该方法采用线阵光电耦合器件 CCD 测量
物经光学系统成像的横向放大率 ,进一步提高了测量精度.
关键词 :光具组 ;基点 :横向放大率
中图分类号 :O 4352 文献标识码 :A 文章编号 :(2006) 08 0040 02
在球面共轴光学系统成像理论中, 基点、基面的 1 1 1
( )
- = 3
Δ Δ
概念较为抽象, 引入的符号和法则也较多, 因而一直 s ′+ s ′ s + s f ′
Δ
是几何光学中的难点. 目前各高等院校普遍开设了 β s ′+ s ′ ( )
2 = Δ 4
s + s
“光具组基点的测定”实验, 常规的实验方法有测节
( ) ( )
联立式 1 ～式 4 , 求解得 :
器法 、牛顿成像法和平行光管法[ 1] . 为了进一步加深
Δ
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