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PON系统中的光链路检测技术研究 王成巍，沈成彬，蒋 铭，杜 喆 (中国电信股份有限公司上海研究院 上海 200122） 摘要 本文通过对PON系统的分析，提出了光链路检测技术的重要性；然后，详细研究了PON系统中光链路检测技术的实现方式，综合考虑成本、实现难度、有效性等因素，提出了双端光模块参数测量是现阶段最佳的实现方式。此外，还分析了双端光模块参数测量中接收光功率测量的实现方法，提出了光模块参数的技术指标要求。最后，给出了几个应用双端光模块参数测量进行故障分析的典型案例。 关键词　无源光网络；光链路检测技术；光模块参数测量；光时域反射仪；SFF-8472 1 引言 无源光网络（PON）系统由局端设备（OLT）、用户端设备（ONU）和光分配网（ODN）组成。ODN中没有有源部件，不需要电源，因此容易铺设，故障率较低，可以节约较多的运营和维护成本。但是相对于ADSL和LAN接入网，PON系统承载多种业务与应用，涉及到很多技术领域，技术复杂度远高于前者，而且一旦发生网络故障将对多种电信业务产生影响，因此，对PON系统的故障处理速度要求更高，这就需要有更好的技术手段对PON进行快速的故障定位和处理。 在PON系统中光分路器的引入给线路故障的定位带来一定的困难，一旦发生故障，难以迅速发现、定位及处理。这不仅需要维护人员掌握复杂的维护技术，解决很多复杂的故障，也需要设备和技术的进一步成熟，提供相应的技术维护手段。PON系统光层的故障主要包括ODN（包括光纤、光分路器和连接器）的故障和光器件（主要指光模块）的故障两方面的内容，采用光链路检测技术可以迅速地发现和定位这些光层的故障。下面本文将介绍光链路检测技术的3种实现方式，对各种方式进行比较，然后对双端光模块参数测量方式进行详细分析，并提出了技术指标要求。 2 PON的光链路检测技术 PON系统的光链路检测技术主要包括：数据链路层误码率（BER）测量、单端光时域反射仪（OTDR）测量和双端光模块的参数测量等。下面将对这3种光链路检测技术进行详细的分析。 2.1 链路层BER测量 链路层的BER测量主要是指OLT和ONU对PON接口上接收到的码流发生的8B/10B误码、以太网帧的FCS错误和FEC错误的统计，通过对所发生的误码的统计分析实现光层故障的定位。如果OLT一个PON口下的线路编码错误随着时间的推移越来越多，并且该PON口下的所有活动的ONU的编码错误也随着时间的推移越来越多的话，就可以初步判定是该PON口到光分路器这一段的光层存在故障，可能的故障包括：光分路器或者OLT的光接头故障，主干光纤故障，OLT PON光模块故障。如果一个PON口下的线路编码错误随着时间的推移越来越多，并且该PON口下的连接到光分路器某个分支的ONU的编码错误越来越多而其他ONU均没有误码的话，就可以初步判定是光分路器的分支到ONU的光层存在故障，可能的故障包括：光分路器的支路故障或者这段光纤存在故障。目前绝大多数的PON芯片均支持这些数据的统计，所以实现比较容易，能够在一定程度上帮助系统故障判断。但由于这种技术是通过数据链路层的统计分析获得链路的状态信息，还不能直观地反映光纤的衰减等物理层参数变化，也不能帮助判断是光纤故障还是光模块故障。 2.2 单端OTDR测量 OTDR测量主要通过发送窄的、高功率的光脉冲到光纤内，然后对反射回的光进行测量。光纤末端、光纤断裂以及连接器等事件可以通过脉冲的反射反映到OTDR上，OTDR根据光反射回来所花费的时间来确定每个事件的距离。OTDR测试只需要在单端进行测量。 PON系统的OTDR测量对OTDR提出了以下新需求。 · 更高的动态范围，可以穿过高损耗的分路器，便于进行OLT到多个ONU的点到多点全程测量。 · 高的分辨率，以便可以表征间距非常近的事件（比如与OLT距离相差不大的多个ONU的测量）。 · PON系统中OTDR需要采用“带外波长”进行测试，原因在于当对某一个PON用户进行故障排除时，不应对同一OLT下其他正常的业务造成干扰（EPON/GPON系统都使用1 310 nm、1 490 nm分别作为上行和下行工作波长，还有可能使用1 550 nm作为CATV的工作波长），因此，ITU-T L.41中建议使用1 650 nm波长作为OTDR的带外测试波长进行在线测试，而在实际工作中，常常采用特殊的具有滤波功能的1 625 nm OTDR来进行。 · 另外，在ONU处还要有上行反射计（如光纤布拉格光栅（FBG滤波器））。 图1即为PON系统中OTDR测量的示意，如图所示，可以在一个机房中共享一个OTDR测试仪，通