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2015-09-15 发布于重庆
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更多设计资料请访问金三维视频教程网： DRAGON_M ESD 的分析及对策袁丁 2004年11月12日一. 背景项目名称:Dragon-M 客户:三菱测试条件:13千伏二. 问题描述 T1 PRT 试验中,大小LENS 处ESD 13千伏失败 : 1.小 lens 处,静电通过金属装饰件以及内部金属零件进入手机内部.同时击穿了1MM宽度的空气; 2.大lens处,静电通过金属装饰件以及背胶(无基胶带)进入手机内部. 三. 原因分析金属装饰件与LCD之间没有有效隔断,在大lens处因为采用的无基胶带,材料疏松,没有能够有效阻断静电,小LENS处,因为在B2B connector之上,为保证连接的可靠性,增加了一片钣金件来压住 CONNECTOR,从而外面的电流通过金属装饰件,击穿空气,传到钣金件上,进入到手机内部四. 解决措施 1. 尽量将外部电流接地; 2. 粘贴LENS的胶带换用阻断性好的胶带 3. 增加LCD铜箔,将LCD整个包裹起来. 4. 在大LENS处缓冲垫上增加一层铜箔,接地. 五. 预防方法做结构设计时候需要和硬件工程师共同分析,因为 ID 通常会作出很多金属装饰件,所以需要在评估 ID 的时候硬件工程师都参与,外部金属装饰品需要和内部器件完全隔断,无法隔断必须接地,同时要预先考虑到一旦出现失败的现象是否有合适的对策.